Título :	Advanced Computing in Electron Microscopy
Tipo de documento:	documento electrónico
Autores:	Kirkland, Earl J., Autor
Mención de edición:	3 ed.
Editorial:	[s.l.] : Springer
Fecha de publicación:	2020
Número de páginas:	XII, 354 p. 146 ilustraciones, 8 ilustraciones en color.
ISBN/ISSN/DL:	978-3-030-33260-0
Nota general:	Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
Palabras clave:	Análisis de espectro  Visión por computador  Material  Biofísica  Espectroscopia  Caracterización y Técnica Analítica  Bioanálisis y Bioimagen
Índice Dewey:	543 Química analítica
Resumen:	Esta edición actualizada y revisada de un trabajo clásico proporciona un resumen de los métodos para el cálculo numérico de imágenes de microscopio electrónico de transmisión de barrido y convencional de alta resolución. En los límites de resolución, los artefactos de la imagen debidos al instrumento y la interacción de la muestra pueden complicar la interpretación de la imagen. Los cálculos de imágenes pueden ayudar al usuario a interpretar y comprender información de alta resolución en micrografías electrónicas registradas. El libro contiene secciones ampliadas sobre corrección de aberraciones, incluida una discusión detallada de las aberraciones de orden superior (multipolares) y su efecto en las imágenes de alta resolución, nuevos modos de imágenes como ABF (campo brillante anular) y los últimos desarrollos en el procesamiento paralelo utilizando GPU ( unidades de procesamiento gráfico), así como referencias actualizadas. Los usuarios principiantes y experimentados a nivel avanzado de pregrado o posgrado encontrarán que el libro es una guía única y esencial para la teoría y los métodos de computación en microscopía electrónica.
Nota de contenido:	Introduction -- The Transmission Electron Microscope -- Some Image Approximations -- Sampling and the Fast Fourier Transform -- Calculation of Images of Thin Specimens -- Theory of Calculation of Images of Thick Specimens -- Multislice Applications and Examples -- The Programss -- App. A: Plotting Transfer Functions -- App. B: The Fourier Projection Theorem -- App. C: Atomic Potentials and Scattering Factors -- App. D: The Inverse Problem -- App. E: Bilinear Interpolation -- App. F: 3D Perspective View.
En línea:	https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]
Link:	https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i

Advanced Computing in Electron Microscopy [documento electrónico] / Kirkland, Earl J., Autor  . -  3 ed.  . - [s.l.] : Springer, 2020 . - XII, 354 p. 146 ilustraciones, 8 ilustraciones en color.
ISBN : 978-3-030-33260-0
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.

Palabras clave:	Análisis de espectro  Visión por computador  Material  Biofísica  Espectroscopia  Caracterización y Técnica Analítica  Bioanálisis y Bioimagen
Índice Dewey:	543 Química analítica
Resumen:	Esta edición actualizada y revisada de un trabajo clásico proporciona un resumen de los métodos para el cálculo numérico de imágenes de microscopio electrónico de transmisión de barrido y convencional de alta resolución. En los límites de resolución, los artefactos de la imagen debidos al instrumento y la interacción de la muestra pueden complicar la interpretación de la imagen. Los cálculos de imágenes pueden ayudar al usuario a interpretar y comprender información de alta resolución en micrografías electrónicas registradas. El libro contiene secciones ampliadas sobre corrección de aberraciones, incluida una discusión detallada de las aberraciones de orden superior (multipolares) y su efecto en las imágenes de alta resolución, nuevos modos de imágenes como ABF (campo brillante anular) y los últimos desarrollos en el procesamiento paralelo utilizando GPU ( unidades de procesamiento gráfico), así como referencias actualizadas. Los usuarios principiantes y experimentados a nivel avanzado de pregrado o posgrado encontrarán que el libro es una guía única y esencial para la teoría y los métodos de computación en microscopía electrónica.
Nota de contenido:	Introduction -- The Transmission Electron Microscope -- Some Image Approximations -- Sampling and the Fast Fourier Transform -- Calculation of Images of Thin Specimens -- Theory of Calculation of Images of Thick Specimens -- Multislice Applications and Examples -- The Programss -- App. A: Plotting Transfer Functions -- App. B: The Fourier Projection Theorem -- App. C: Atomic Potentials and Scattering Factors -- App. D: The Inverse Problem -- App. E: Bilinear Interpolation -- App. F: 3D Perspective View.
En línea:	https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]
Link:	https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i