| TÃtulo : |
VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era – Design, Verification and Reliability : 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016, Revised Selected Papers |
| Tipo de documento: |
documento electrónico |
| Autores: |
Hollstein, Thomas, ; Raik, Jaan, ; Kostin, Sergei, ; TÅ¡ertov, Anton, ; O'Connor, Ian, ; Reis, Ricardo, |
| Mención de edición: |
1 ed. |
| Editorial: |
[s.l.] : Springer |
| Fecha de publicación: |
2017 |
| Número de páginas: |
XIV, 233 p. 129 ilustraciones |
| ISBN/ISSN/DL: |
978-3-319-67104-8 |
| Nota general: |
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. |
| Palabras clave: |
IngenierÃa Informática Red de computadoras Ordenadores Ingenieria asistida por computadora Circuitos electrónicos IngenierÃa Informática y Redes Hardware de la computadora IngenierÃa y Diseño Asistidos por Computador (CAD CAE) Circuitos y sistemas electrónicos |
| Ãndice Dewey: |
621.39 Ciencia de los computadores (Ingenieria de computadores) |
| Resumen: |
Este libro contiene versiones ampliadas y revisadas de los mejores artÃculos presentados en la 24.ª Conferencia Internacional IFIP WG 10.5/IEEE sobre Integración a Muy Gran Escala, VLSI-SoC 2016, celebrada en Tallin, Estonia, en septiembre de 2016. Los 11 artÃculos incluidos en el libro fueron cuidadosamente revisados ​​y seleccionados de los 36 artÃculos completos presentados en la conferencia. Los artÃculos cubren una amplia gama de temas en tecnologÃa VLSI e investigación avanzada. Abordan los últimos resultados y desarrollos cientÃficos e industriales, asà como las tendencias futuras en el campo del diseño de sistemas en chips (SoC). |
| En lÃnea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era – Design, Verification and Reliability : 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016, Revised Selected Papers [documento electrónico] / Hollstein, Thomas, ; Raik, Jaan, ; Kostin, Sergei, ; TÅ¡ertov, Anton, ; O'Connor, Ian, ; Reis, Ricardo, . - 1 ed. . - [s.l.] : Springer, 2017 . - XIV, 233 p. 129 ilustraciones. ISBN : 978-3-319-67104-8 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. |  |
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