Título :	High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Tipo de documento:	documento electrónico
Autores:	Wang, Zheng, Autor ; Chattopadhyay, Anupam, Autor
Mención de edición:	1 ed.
Editorial:	Singapore [Malasya] : Springer
Fecha de publicación:	2018
Número de páginas:	XX, 197 p. 104 ilustraciones, 72 ilustraciones en color.
ISBN/ISSN/DL:	978-981-10-1073-6
Nota general:	Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
Palabras clave:	Circuito electrónico  Ordenador  Circuitos y sistemas electrónicos  Rendimiento y confiabilidad del hardware
Índice Dewey:	6.213.815
Resumen:	Este libro presenta un marco novedoso para modelar con precisión los errores en la tecnología CMOS a nanoescala y desarrollar un flujo fluido de herramientas en abstracciones de diseño de alto nivel para estimar y mitigar los efectos de los errores. El libro presenta técnicas novedosas para la simulación de fallas de alto nivel y la estimación de confiabilidad, así como diseños tolerantes a fallas a nivel de arquitectura y de sistema. También presenta un estudio de problemas y soluciones de última generación, ofreciendo información sobre los problemas de confiabilidad en el diseño digital y sus contramedidas entre capas. .
Nota de contenido:	Introduction -- Background -- Related Work -- High-level Fault Injection and Simulation -- Architectural Reliability Estimation -- Architectural Reliability Exploration -- System-level Reliability Exploration -- Conclusion and Outlook.
En línea:	https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]
Link:	https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i

High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip [documento electrónico] / Wang, Zheng, Autor ; Chattopadhyay, Anupam, Autor  . -  1 ed.  . - Singapore [Malasya] : Springer, 2018 . - XX, 197 p. 104 ilustraciones, 72 ilustraciones en color.
ISBN : 978-981-10-1073-6
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.

Palabras clave:	Circuito electrónico  Ordenador  Circuitos y sistemas electrónicos  Rendimiento y confiabilidad del hardware
Índice Dewey:	6.213.815
Resumen:	Este libro presenta un marco novedoso para modelar con precisión los errores en la tecnología CMOS a nanoescala y desarrollar un flujo fluido de herramientas en abstracciones de diseño de alto nivel para estimar y mitigar los efectos de los errores. El libro presenta técnicas novedosas para la simulación de fallas de alto nivel y la estimación de confiabilidad, así como diseños tolerantes a fallas a nivel de arquitectura y de sistema. También presenta un estudio de problemas y soluciones de última generación, ofreciendo información sobre los problemas de confiabilidad en el diseño digital y sus contramedidas entre capas. .
Nota de contenido:	Introduction -- Background -- Related Work -- High-level Fault Injection and Simulation -- Architectural Reliability Estimation -- Architectural Reliability Exploration -- System-level Reliability Exploration -- Conclusion and Outlook.
En línea:	https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]
Link:	https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i