| Título : |
Atomic Force Microscopy |
| Tipo de documento: |
documento electrónico |
| Autores: |
Voigtländer, Bert, Autor |
| Mención de edición: |
2 ed. |
| Editorial: |
[s.l.] : Springer |
| Fecha de publicación: |
2019 |
| Número de páginas: |
XIV, 331 p. 157 ilustraciones, 129 ilustraciones en color. |
| ISBN/ISSN/DL: |
978-3-030-13654-3 |
| Nota general: |
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. |
| Palabras clave: |
Análisis de espectro Nanotecnología Microtecnología Sistemas micro electromecánicos Nanociencia Biofísica Espectroscopia Microsistemas y MEMS Nanofísica Bioanálisis y Bioimagen |
| Índice Dewey: |
543 Química analítica |
| Resumen: |
Este libro explica los principios operativos de la microscopía de fuerza atómica con el objetivo de permitir al lector operar con éxito un microscopio de sonda de barrido y comprender los datos obtenidos con el microscopio. Esta segunda edición mejorada de "Scanning Probe Microscopy" (Springer, 2015) representa una extensión y revisión sustancial de la parte sobre microscopía de fuerza atómica del libro anterior. Este libro, que cubre aspectos técnicos fundamentales e importantes de la microscopía de fuerza atómica, se concentra en los principios y métodos utilizando un enfoque didáctico de una manera fácilmente digerible. Si bien está dirigido principalmente a estudiantes de posgrado en física, ciencia de materiales, química, nanociencia e ingeniería, este libro también es útil para profesionales y principiantes en este campo, y es un libro de referencia ideal en cualquier laboratorio de microscopía de fuerza atómica. |
| Nota de contenido: |
Introduction -- Part I: Scanning Probe Microscopy Instrumentation -- Harmonic Oscillator -- Technical Aspects of Scanning Probe Microscopy -- Scanning Probe Microscopy Designs -- Electronics for Scanning Probe Microscopy -- Lock-In Technique -- Data Representation and Image Processing -- Artifacts in SPM -- Work Function, Contact Potential, and Kelvin Probe -- Part II: Atomic Force Microscopy (AFM) -- Forces between Tip and Sample -- Technical Aspects of Atomic Force Microscopy -- Static Atomic Force Microscopy -- Amplitude Modulation (AM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy -- Intermittent Contact Mode/Tapping Mode -- Mapping of Mechanical Properties Using Force-Distance -- Frequency Modulation (FM) Mode in Dynamic Atomic Force -- Noise in Atomic Force Microscopy -- Quartz Sensors in Atomic Force Microscopy. |
| En línea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
Atomic Force Microscopy [documento electrónico] / Voigtländer, Bert, Autor . - 2 ed. . - [s.l.] : Springer, 2019 . - XIV, 331 p. 157 ilustraciones, 129 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-030-13654-3 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
| Palabras clave: |
Análisis de espectro Nanotecnología Microtecnología Sistemas micro electromecánicos Nanociencia Biofísica Espectroscopia Microsistemas y MEMS Nanofísica Bioanálisis y Bioimagen |
| Índice Dewey: |
543 Química analítica |
| Resumen: |
Este libro explica los principios operativos de la microscopía de fuerza atómica con el objetivo de permitir al lector operar con éxito un microscopio de sonda de barrido y comprender los datos obtenidos con el microscopio. Esta segunda edición mejorada de "Scanning Probe Microscopy" (Springer, 2015) representa una extensión y revisión sustancial de la parte sobre microscopía de fuerza atómica del libro anterior. Este libro, que cubre aspectos técnicos fundamentales e importantes de la microscopía de fuerza atómica, se concentra en los principios y métodos utilizando un enfoque didáctico de una manera fácilmente digerible. Si bien está dirigido principalmente a estudiantes de posgrado en física, ciencia de materiales, química, nanociencia e ingeniería, este libro también es útil para profesionales y principiantes en este campo, y es un libro de referencia ideal en cualquier laboratorio de microscopía de fuerza atómica. |
| Nota de contenido: |
Introduction -- Part I: Scanning Probe Microscopy Instrumentation -- Harmonic Oscillator -- Technical Aspects of Scanning Probe Microscopy -- Scanning Probe Microscopy Designs -- Electronics for Scanning Probe Microscopy -- Lock-In Technique -- Data Representation and Image Processing -- Artifacts in SPM -- Work Function, Contact Potential, and Kelvin Probe -- Part II: Atomic Force Microscopy (AFM) -- Forces between Tip and Sample -- Technical Aspects of Atomic Force Microscopy -- Static Atomic Force Microscopy -- Amplitude Modulation (AM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy -- Intermittent Contact Mode/Tapping Mode -- Mapping of Mechanical Properties Using Force-Distance -- Frequency Modulation (FM) Mode in Dynamic Atomic Force -- Noise in Atomic Force Microscopy -- Quartz Sensors in Atomic Force Microscopy. |
| En línea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
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