| Título : |
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation |
| Tipo de documento: |
documento electrónico |
| Autores: |
Wang, Rongming, ; Wang, Chen, ; Zhang, Hongzhou, ; Tao, Jing, ; Bai, Xuedong, |
| Mención de edición: |
1 ed. |
| Editorial: |
Singapore [Malasya] : Springer |
| Fecha de publicación: |
2018 |
| Número de páginas: |
VII, 508 p. 333 ilustraciones, 26 ilustraciones en color. |
| ISBN/ISSN/DL: |
978-981-1304545-- |
| Nota general: |
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. |
| Palabras clave: |
Nanociencia Material Análisis de espectro Nanofísica Caracterización y Técnica Analítica Espectroscopia |
| Índice Dewey: |
530.41 |
| Resumen: |
Este libro se centra en la óptica y la microscopía de partículas cargadas, así como en sus aplicaciones en las ciencias de los materiales. Al presentar una variedad de avances teóricos y metodológicos de vanguardia en microscopía electrónica y microanálisis, y examinar sus funciones cruciales en la investigación de materiales modernos, ofrece un recurso único para todos los investigadores que trabajan en ultramicroscopía y/o investigación de materiales. El libro aborda las crecientes oportunidades en este campo y presenta a los lectores los últimos avances en técnicas de microscopía de partículas cargadas. Muestra avances recientes en microscopía electrónica de barrido, microscopía electrónica de transmisión y microscopía de iones de helio, incluida la espectroscopia avanzada, la microscopía esférica corregida, la obtención de imágenes de iones enfocados y la microscopía in situ. Al cubrir estos y otros temas esenciales, el libro pretende facilitar el desarrollo de técnicas de microscopía, inspirar a jóvenes investigadores y hacer una valiosa contribución al campo. |
| Nota de contenido: |
Electron/Ion Optics -- Scanning Electron Microscopy -- Transmission Electron Microscopy -- Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) -- Spectroscopy -- Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy and Its Applications -- In situ TEM: Theory and Applications -- Helium Ion Microscopy. |
| En línea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation [documento electrónico] / Wang, Rongming, ; Wang, Chen, ; Zhang, Hongzhou, ; Tao, Jing, ; Bai, Xuedong, . - 1 ed. . - Singapore [Malasya] : Springer, 2018 . - VII, 508 p. 333 ilustraciones, 26 ilustraciones en color. ISBN : 978-981-1304545-- Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
| Palabras clave: |
Nanociencia Material Análisis de espectro Nanofísica Caracterización y Técnica Analítica Espectroscopia |
| Índice Dewey: |
530.41 |
| Resumen: |
Este libro se centra en la óptica y la microscopía de partículas cargadas, así como en sus aplicaciones en las ciencias de los materiales. Al presentar una variedad de avances teóricos y metodológicos de vanguardia en microscopía electrónica y microanálisis, y examinar sus funciones cruciales en la investigación de materiales modernos, ofrece un recurso único para todos los investigadores que trabajan en ultramicroscopía y/o investigación de materiales. El libro aborda las crecientes oportunidades en este campo y presenta a los lectores los últimos avances en técnicas de microscopía de partículas cargadas. Muestra avances recientes en microscopía electrónica de barrido, microscopía electrónica de transmisión y microscopía de iones de helio, incluida la espectroscopia avanzada, la microscopía esférica corregida, la obtención de imágenes de iones enfocados y la microscopía in situ. Al cubrir estos y otros temas esenciales, el libro pretende facilitar el desarrollo de técnicas de microscopía, inspirar a jóvenes investigadores y hacer una valiosa contribución al campo. |
| Nota de contenido: |
Electron/Ion Optics -- Scanning Electron Microscopy -- Transmission Electron Microscopy -- Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) -- Spectroscopy -- Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy and Its Applications -- In situ TEM: Theory and Applications -- Helium Ion Microscopy. |
| En línea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
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