Título :	27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019, Cusco, Peru, October 6–9, 2019, Revised and Extended Selected Papers
Tipo de documento:	documento electrónico
Autores:	Metzler, Carolina, ; Gaillardon, Pierre-Emmanuel, ; De Micheli, Giovanni, ; Silva-Cardenas, Carlos, ; Reis, Ricardo,
Mención de edición:	1 ed.
Editorial:	[s.l.] : Springer
Fecha de publicación:	2020
Número de páginas:	XVII, 345 p. 214 ilustraciones, 129 ilustraciones en color.
ISBN/ISSN/DL:	978-3-030-53273-4
Nota general:	Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
Palabras clave:	Ingeniería Informática  Red de computadoras  Microprogramación  Equipos de entrada y salida de computadora  Sistemas operativos (computadoras)  Ingeniería Informática y Redes  Estructuras de control y microprogramación  Entrada/Salida y Comunicaciones de Datos  Sistemas operativos
Índice Dewey:	621.39 Ciencia de los computadores (Ingenieria de computadores)
Resumen:	Este libro contiene versiones ampliadas y revisadas de los mejores artículos presentados en la 27.ª Conferencia Internacional IFIP WG 10.5/IEEE sobre Integración a Muy Gran Escala, VLSI-SoC 2019, celebrada en Cusco, Perú, en octubre de 2019. Los 15 artículos completos incluidos en este El volumen fue cuidadosamente revisado y seleccionado de los 28 artículos (de 82 presentaciones) presentados en la conferencia. Los artículos analizan los últimos resultados y desarrollos académicos e industriales, así como las tendencias futuras en el campo del diseño de sistemas en chips (SoC), considerando los desafíos de las tecnologías de fabricación emergentes, de última generación y de nanoescala. En particular, abordan campos de investigación de vanguardia como los sistemas informáticos aproximados, heterogéneos, neuromórficos y de inspiración biológica y cerebral.
Nota de contenido:	Software-Based Self-Test for Delay Faults -- On Test Generation for Microprocessors for Extended Class of Functional Faults -- Robust FinFET Schmitt Trigger Designs for Low Power Applications -- An Improved Technique for Logic Gate Susceptibility Evaluation of Single Event Transient Faults -- Process Variability Impact on the SET Response of FinFET Multi-level Design -- Efficient Soft Error Vulnerability Analysis Using Non-Intrusive Fault Injection Techniques -- A Statistical Wafer Scale Error and Redundancy Analysis Simulator -- Hardware-enabled Secure Firmware Updates in Embedded Systems -- Reliability Enhanced Digital Low-Dropout Regulator with Improved Transient Performance -- Security Aspects of Real-time MPSoCs: The Flaws and Opportunities of Preemptive NoCs -- Offset-Compensation Systems for Multi-Gbit/s Optical Receivers -- Accelerating Inference on Binary Neural Networks with Digital RRAM Processing -- Semi- and Fully-Random Access LUTs for Smooth Functions -- A Predictive Process Design Kit for Three-Independent-Gate Field-Effect Transistors -- Exploiting Heterogeneous Mobile Architectures through a Unified Runtime Framework.
En línea:	https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]
Link:	https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i

27th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019, Cusco, Peru, October 6–9, 2019, Revised and Extended Selected Papers [documento electrónico] / Metzler, Carolina, ; Gaillardon, Pierre-Emmanuel, ; De Micheli, Giovanni, ; Silva-Cardenas, Carlos, ; Reis, Ricardo,  . -  1 ed.  . - [s.l.] : Springer, 2020 . - XVII, 345 p. 214 ilustraciones, 129 ilustraciones en color.
ISBN : 978-3-030-53273-4
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.

Palabras clave:	Ingeniería Informática  Red de computadoras  Microprogramación  Equipos de entrada y salida de computadora  Sistemas operativos (computadoras)  Ingeniería Informática y Redes  Estructuras de control y microprogramación  Entrada/Salida y Comunicaciones de Datos  Sistemas operativos
Índice Dewey:	621.39 Ciencia de los computadores (Ingenieria de computadores)
Resumen:	Este libro contiene versiones ampliadas y revisadas de los mejores artículos presentados en la 27.ª Conferencia Internacional IFIP WG 10.5/IEEE sobre Integración a Muy Gran Escala, VLSI-SoC 2019, celebrada en Cusco, Perú, en octubre de 2019. Los 15 artículos completos incluidos en este El volumen fue cuidadosamente revisado y seleccionado de los 28 artículos (de 82 presentaciones) presentados en la conferencia. Los artículos analizan los últimos resultados y desarrollos académicos e industriales, así como las tendencias futuras en el campo del diseño de sistemas en chips (SoC), considerando los desafíos de las tecnologías de fabricación emergentes, de última generación y de nanoescala. En particular, abordan campos de investigación de vanguardia como los sistemas informáticos aproximados, heterogéneos, neuromórficos y de inspiración biológica y cerebral.
Nota de contenido:	Software-Based Self-Test for Delay Faults -- On Test Generation for Microprocessors for Extended Class of Functional Faults -- Robust FinFET Schmitt Trigger Designs for Low Power Applications -- An Improved Technique for Logic Gate Susceptibility Evaluation of Single Event Transient Faults -- Process Variability Impact on the SET Response of FinFET Multi-level Design -- Efficient Soft Error Vulnerability Analysis Using Non-Intrusive Fault Injection Techniques -- A Statistical Wafer Scale Error and Redundancy Analysis Simulator -- Hardware-enabled Secure Firmware Updates in Embedded Systems -- Reliability Enhanced Digital Low-Dropout Regulator with Improved Transient Performance -- Security Aspects of Real-time MPSoCs: The Flaws and Opportunities of Preemptive NoCs -- Offset-Compensation Systems for Multi-Gbit/s Optical Receivers -- Accelerating Inference on Binary Neural Networks with Digital RRAM Processing -- Semi- and Fully-Random Access LUTs for Smooth Functions -- A Predictive Process Design Kit for Three-Independent-Gate Field-Effect Transistors -- Exploiting Heterogeneous Mobile Architectures through a Unified Runtime Framework.
En línea:	https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]
Link:	https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i