| Título : |
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs |
| Tipo de documento: |
documento electrónico |
| Autores: |
Zimpeck, Alexandra, Autor ; Meinhardt, Cristina, Autor ; Artola, Laurent, Autor ; Reis, Ricardo, Autor |
| Mención de edición: |
1 ed. |
| Editorial: |
[s.l.] : Springer |
| Fecha de publicación: |
2021 |
| Número de páginas: |
XIII, 131 p. 89 ilustraciones, 86 ilustraciones en color. |
| ISBN/ISSN/DL: |
978-3-030-68368-9 |
| Nota general: |
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. |
| Palabras clave: |
Circuitos electrónicos Diseño de circuitos electrónicos Física del estado sólido Circuitos y sistemas electrónicos Diseño y Verificación Electrónica Dispositivos electrónicos |
| Índice Dewey: |
6.213.815 |
| Resumen: |
Este libro evalúa la influencia de las variaciones del proceso (por ejemplo, fluctuaciones de la función de trabajo) y los errores suaves inducidos por la radiación en un conjunto de celdas lógicas que utilizan tecnología FinFET, considerando el nodo tecnológico de 7 nm como un caso de estudio. Además, para una estimación precisa del error leve, los autores adoptan una herramienta generadora de eventos de radiación (MUSCA SEP3), que se ocupa tanto de las características de diseño como de las propiedades eléctricas de los dispositivos. Los autores también exploran cuatro técnicas a nivel de circuito (por ejemplo, reordenamiento de transistores, celdas de desacoplamiento, disparador Schmitt y transistor de suspensión) como alternativas para atenuar los efectos no deseados en las celdas lógicas FinFET. Este libro también evalúa la tendencia de mitigación cuando se aplican en el diseño diferentes niveles de variación del proceso, tamaño del transistor y características de las partículas de radiación. Se proporciona una comparación general de todos los métodos abordados en este trabajo, lo que permite trazar un equilibrio entre las ganancias de confiabilidad y las penalizaciones de diseño de cada enfoque con respecto al área, el rendimiento, el consumo de energía, el ancho de pulso transitorio de evento único (SET) y el SET. sección transversal. Explica cómo medir la influencia de la variabilidad del proceso (por ejemplo, fluctuaciones de la función de trabajo) y los errores leves inducidos por la radiación en celdas lógicas FinFET; Permite a los diseñadores mejorar la robustez de los circuitos integrados FinFET sin centrarse en ajustes de fabricación; Analiza los beneficios y desventajas del uso de enfoques a nivel de circuito, como el reordenamiento de transistores, el desacoplamiento de celdas, el disparador Schmitt y el transistor inactivo para mitigar el impacto de la variabilidad del proceso y los errores leves; Evalúa las técnicas descritas en el contexto de diferentes escenarios de prueba: distintos niveles de variaciones del proceso, tamaño del transistor y diferentes características de radiación; Ayuda a los lectores a identificar el mejor diseño de circuito teniendo en cuenta la aplicación de destino y los requisitos de diseño, como restricciones de área o limitaciones de potencia/retardo. |
| Nota de contenido: |
Chapter 1. Introduction -- Chapter 2. FinFET Technology -- Chapter 3. Reliability Challenges in FinFETs -- Chapter 4. Circuit-Level Mitigation Approaches -- Chapter 5. Evaluation Methodology -- Chapter 6. Process Variability Mitigation -- Chapter 7. Soft Error Mitigation -- Chapter 8. General Trade-offs -- Chapter 9. Final Remarks. |
| En línea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs [documento electrónico] / Zimpeck, Alexandra, Autor ; Meinhardt, Cristina, Autor ; Artola, Laurent, Autor ; Reis, Ricardo, Autor . - 1 ed. . - [s.l.] : Springer, 2021 . - XIII, 131 p. 89 ilustraciones, 86 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-030-68368-9 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
| Palabras clave: |
Circuitos electrónicos Diseño de circuitos electrónicos Física del estado sólido Circuitos y sistemas electrónicos Diseño y Verificación Electrónica Dispositivos electrónicos |
| Índice Dewey: |
6.213.815 |
| Resumen: |
Este libro evalúa la influencia de las variaciones del proceso (por ejemplo, fluctuaciones de la función de trabajo) y los errores suaves inducidos por la radiación en un conjunto de celdas lógicas que utilizan tecnología FinFET, considerando el nodo tecnológico de 7 nm como un caso de estudio. Además, para una estimación precisa del error leve, los autores adoptan una herramienta generadora de eventos de radiación (MUSCA SEP3), que se ocupa tanto de las características de diseño como de las propiedades eléctricas de los dispositivos. Los autores también exploran cuatro técnicas a nivel de circuito (por ejemplo, reordenamiento de transistores, celdas de desacoplamiento, disparador Schmitt y transistor de suspensión) como alternativas para atenuar los efectos no deseados en las celdas lógicas FinFET. Este libro también evalúa la tendencia de mitigación cuando se aplican en el diseño diferentes niveles de variación del proceso, tamaño del transistor y características de las partículas de radiación. Se proporciona una comparación general de todos los métodos abordados en este trabajo, lo que permite trazar un equilibrio entre las ganancias de confiabilidad y las penalizaciones de diseño de cada enfoque con respecto al área, el rendimiento, el consumo de energía, el ancho de pulso transitorio de evento único (SET) y el SET. sección transversal. Explica cómo medir la influencia de la variabilidad del proceso (por ejemplo, fluctuaciones de la función de trabajo) y los errores leves inducidos por la radiación en celdas lógicas FinFET; Permite a los diseñadores mejorar la robustez de los circuitos integrados FinFET sin centrarse en ajustes de fabricación; Analiza los beneficios y desventajas del uso de enfoques a nivel de circuito, como el reordenamiento de transistores, el desacoplamiento de celdas, el disparador Schmitt y el transistor inactivo para mitigar el impacto de la variabilidad del proceso y los errores leves; Evalúa las técnicas descritas en el contexto de diferentes escenarios de prueba: distintos niveles de variaciones del proceso, tamaño del transistor y diferentes características de radiación; Ayuda a los lectores a identificar el mejor diseño de circuito teniendo en cuenta la aplicación de destino y los requisitos de diseño, como restricciones de área o limitaciones de potencia/retardo. |
| Nota de contenido: |
Chapter 1. Introduction -- Chapter 2. FinFET Technology -- Chapter 3. Reliability Challenges in FinFETs -- Chapter 4. Circuit-Level Mitigation Approaches -- Chapter 5. Evaluation Methodology -- Chapter 6. Process Variability Mitigation -- Chapter 7. Soft Error Mitigation -- Chapter 8. General Trade-offs -- Chapter 9. Final Remarks. |
| En línea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
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Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
