Design for Testability, Debug and Reliability / Huhn, Sebastian  

Público ISBD Ningún comentario para este registro. Título : Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques Tipo de documento: documento electrónico Autores: Huhn, Sebastian, Autor ; Drechsler, Rolf, Autor Mención de edición: 1 ed. Editorial: [s.l.] : Springer Fecha de publicación: 2021 Número de páginas: XXI, 164 p. 47 ilustraciones, 25 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-3-030-69209-4 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Sistemas informáticos integrados  Diseño de circuitos electrónicos  Microprocesadores  Arquitectura de Computadores  Sistemas embebidos  Diseño y Verificación Electrónica  Arquitecturas de procesador Índice Dewey: 006.22 Lenguajes de marcado - HTML (HyperText Markup Language) - XML (eXtensible Markup Language), etc Resumen: Este libro presenta varios enfoques novedosos para allanar el camino para la próxima generación de circuitos integrados, que pueden integrarse de manera exitosa y confiable, incluso en aplicaciones críticas para la seguridad. Los autores describen nuevas medidas para abordar los desafíos crecientes en el campo del diseño para la capacidad de prueba, la depuración y la confiabilidad, como se requiere estrictamente para los diseños de circuitos de última generación. En particular, este libro combina técnicas formales, como el problema de satisfacibilidad (SAT) y la verificación de modelos acotados (BMC), para abordar los desafíos emergentes relacionados con el aumento en el volumen de datos de prueba, así como el tiempo de aplicación de prueba y la confiabilidad requerida. Todos los métodos se discuten en detalle y se evalúan ampliamente, al tiempo que se consideran candidatos de referencia relevantes para la industria. Todas las medidas se han integrado en un marco común, que implementa interfaces de software/hardware estandarizadas. Proporciona a los lectores una combinación de un conjunto integral de técnicas formales que cubren y mejoran diferentes aspectos del flujo de diseño y prueba de vanguardia para circuitos integrados; presenta técnicas de redireccionamiento basadas en particiones, basadas en optimización formal y heurísticas recientemente desarrolladas y las integra en un marco común; Describe medidas totalmente compatibles (con respecto al estándar industrial de facto) para mejorar las capacidades DFT, DFD y DFR al tiempo que admite formatos de intercambio de datos estandarizados; incluye nuevas medidas para abordar las deficiencias de los métodos de vanguardia existentes, incluida la aplicación de cero defectos en aplicaciones críticas para la seguridad. Nota de contenido: Introduction -- Integrated Circuits -- Formal Techniques -- Embedded Compression Architecture for Test Access Ports -- Optimization SAT-based Retargeting for Embedded Compression -- Reconfigurable TAP Controllers with Embedded Compression -- Embedded Multichannel Test Compression for Low-Pin Count Test -- Enhanced Reliability using Formal Techniques -- Conclusion and Outlook. En línea: https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Link: https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques [documento electrónico] / Huhn, Sebastian, Autor ; Drechsler, Rolf, Autor  . -  1 ed.  . - [s.l.] : Springer, 2021 . - XXI, 164 p. 47 ilustraciones, 25 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-030-69209-4 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Sistemas informáticos integrados  Diseño de circuitos electrónicos  Microprocesadores  Arquitectura de Computadores  Sistemas embebidos  Diseño y Verificación Electrónica  Arquitecturas de procesador Índice Dewey: 006.22 Lenguajes de marcado - HTML (HyperText Markup Language) - XML (eXtensible Markup Language), etc Resumen: Este libro presenta varios enfoques novedosos para allanar el camino para la próxima generación de circuitos integrados, que pueden integrarse de manera exitosa y confiable, incluso en aplicaciones críticas para la seguridad. Los autores describen nuevas medidas para abordar los desafíos crecientes en el campo del diseño para la capacidad de prueba, la depuración y la confiabilidad, como se requiere estrictamente para los diseños de circuitos de última generación. En particular, este libro combina técnicas formales, como el problema de satisfacibilidad (SAT) y la verificación de modelos acotados (BMC), para abordar los desafíos emergentes relacionados con el aumento en el volumen de datos de prueba, así como el tiempo de aplicación de prueba y la confiabilidad requerida. Todos los métodos se discuten en detalle y se evalúan ampliamente, al tiempo que se consideran candidatos de referencia relevantes para la industria. Todas las medidas se han integrado en un marco común, que implementa interfaces de software/hardware estandarizadas. Proporciona a los lectores una combinación de un conjunto integral de técnicas formales que cubren y mejoran diferentes aspectos del flujo de diseño y prueba de vanguardia para circuitos integrados; presenta técnicas de redireccionamiento basadas en particiones, basadas en optimización formal y heurísticas recientemente desarrolladas y las integra en un marco común; Describe medidas totalmente compatibles (con respecto al estándar industrial de facto) para mejorar las capacidades DFT, DFD y DFR al tiempo que admite formatos de intercambio de datos estandarizados; incluye nuevas medidas para abordar las deficiencias de los métodos de vanguardia existentes, incluida la aplicación de cero defectos en aplicaciones críticas para la seguridad. Nota de contenido: Introduction -- Integrated Circuits -- Formal Techniques -- Embedded Compression Architecture for Test Access Ports -- Optimization SAT-based Retargeting for Embedded Compression -- Reconfigurable TAP Controllers with Embedded Compression -- Embedded Multichannel Test Compression for Low-Pin Count Test -- Enhanced Reliability using Formal Techniques -- Conclusion and Outlook. En línea: https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Link: https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i

Politics and History of Violence and Crime in Central America / Huhn, Sebastian  

Público ISBD Ningún comentario para este registro. Título : Politics and History of Violence and Crime in Central America Tipo de documento: documento electrónico Autores: Huhn, Sebastian, Autor ; Warnecke-Berger, Hannes, Autor Mención de edición: 1 ed. Editorial: New York, N.Y. : Palgrave Macmillan US Fecha de publicación: 2017 Número de páginas: XIX, 330 p. 13 ilustraciones ISBN/ISSN/DL: 978-1-349-95067-6 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: política americana  Politica comparativa  Historia política  Crimen y sociedad  Gobierno comparado  La violencia política  Terrorismo  Crimen  Terrorismo y violencia política Índice Dewey: 320.9 Resumen: Este libro destaca las explicaciones históricas y las raíces de los fenómenos actuales de violencia, inseguridad y aplicación de la ley en Centroamérica. La violencia y el crimen se encuentran entre los temas más discutidos en Centroamérica hoy en día, y el sensacionalismo y el miedo al crimen están tan presentes como el aumento de la seguridad privada, la remilitarización de las fuerzas del orden, el populismo político y las políticas de mano dura. Los colaboradores de este volumen discuten las formas, caminos, continuidades y cambios históricos de la violencia y su discusión pública y política en la región. Este libro ofrece así un análisis en profundidad de diferentes patrones de violencia, su reproducción en el tiempo, su articulación en el presente y, finalmente, su movilización discursiva. En línea: https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1057/97 [...] Link: https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i Politics and History of Violence and Crime in Central America [documento electrónico] / Huhn, Sebastian, Autor ; Warnecke-Berger, Hannes, Autor  . -  1 ed.  . - New York, N.Y. : Palgrave Macmillan US, 2017 . - XIX, 330 p. 13 ilustraciones. ISBN : 978-1-349-95067-6 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: política americana  Politica comparativa  Historia política  Crimen y sociedad  Gobierno comparado  La violencia política  Terrorismo  Crimen  Terrorismo y violencia política Índice Dewey: 320.9 Resumen: Este libro destaca las explicaciones históricas y las raíces de los fenómenos actuales de violencia, inseguridad y aplicación de la ley en Centroamérica. La violencia y el crimen se encuentran entre los temas más discutidos en Centroamérica hoy en día, y el sensacionalismo y el miedo al crimen están tan presentes como el aumento de la seguridad privada, la remilitarización de las fuerzas del orden, el populismo político y las políticas de mano dura. Los colaboradores de este volumen discuten las formas, caminos, continuidades y cambios históricos de la violencia y su discusión pública y política en la región. Este libro ofrece así un análisis en profundidad de diferentes patrones de violencia, su reproducción en el tiempo, su articulación en el presente y, finalmente, su movilización discursiva. En línea: https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1057/97 [...] Link: https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i

---

1 (1 - 2 / 2) Par page : 25 50 100 200