| TÃtulo : |
Analytical Modelling of Breakdown Effect in Graphene Nanoribbon Field Effect Transistor |
| Tipo de documento: |
documento electrónico |
| Autores: |
Amiri, Iraj Sadegh, Autor ; Ghadiry, Mahdiar, Autor |
| Mención de edición: |
1 ed. |
| Editorial: |
Singapore [Malasya] : Springer |
| Fecha de publicación: |
2018 |
| Número de páginas: |
IX, 86 p. 55 ilustraciones, 16 ilustraciones en color. |
| ISBN/ISSN/DL: |
978-981-10-6550-7 |
| Nota general: |
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. |
| Palabras clave: |
MicrotecnologÃa Sistemas micro electromecánicos Circuitos electrónicos NanotecnologÃa Microsistemas y MEMS Circuitos y sistemas electrónicos |
| Resumen: |
Este libro analiza enfoques analÃticos y modelos de los efectos del voltaje de ruptura (BV) en transistores basados ​​en grafeno. Presenta modelos semianalÃticos para el campo eléctrico lateral, la longitud de la región de saturación de velocidad (LVSR), el coeficiente de ionización (α) y el voltaje de ruptura (BV) de transistores de efecto de campo de nanocintas de grafeno (GNRFET) de puerta simple y doble. La aplicación de la ley de Gauss en las regiones de drenaje y fuente se emplea para derivar ecuaciones de potencial superficial y campo eléctrico lateral. Luego se calcula LVSR como una solución del potencial superficial en condiciones de saturación. El coeficiente de ionización se modela y calcula derivando ecuaciones para la probabilidad de colisiones en modos balÃsticos y de deriva basadas en la teorÃa de la ionización de la deriva afortunada. La energÃa umbral de ionización se calcula mediante simulación y se deriva semianalÃticamente una ecuación empÃrica. Por último, se emplea la condición de ruptura de avalancha para calcular el BV lateral. Sobre la base de esto, se proponen modelos analÃticos y semianalÃticos simples para LVSR y BV, que podrÃan usarse en el diseño y optimización de dispositivos y sensores semiconductores. Las ecuaciones propuestas se utilizan para examinar BV en diferentes longitudes de canal, voltajes de suministro, espesor de óxido, anchos de GNR y voltajes de compuerta. Los resultados de la simulación muestran que el voltaje de funcionamiento de los FET podrÃa ser tan bajo como 0,25 V para evitar averÃas. Sin embargo, después de la optimización, puede llegar hasta 1,5 V. Este trabajo es útil para los investigadores que trabajan en el área de los transistores basados ​​en nanocintas de grafeno. |
| Nota de contenido: |
Introduction on Scaling Issues of Conventional Semiconductors -- Basic Concept of Field Effect Transistors -- Methodology for Modelling of Surface Potemntial, Ionization and Breakdown of Graphene Field Effect Transistors -- Results and Discussion on Ionization and Breakdown of Grapehene Field Efffect Transistor -- Conclusion and Futureworks on High Voltage Application of Graphene. |
| En lÃnea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
Analytical Modelling of Breakdown Effect in Graphene Nanoribbon Field Effect Transistor [documento electrónico] / Amiri, Iraj Sadegh, Autor ; Ghadiry, Mahdiar, Autor . - 1 ed. . - Singapore [Malasya] : Springer, 2018 . - IX, 86 p. 55 ilustraciones, 16 ilustraciones en color. ISBN : 978-981-10-6550-7 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
| Palabras clave: |
MicrotecnologÃa Sistemas micro electromecánicos Circuitos electrónicos NanotecnologÃa Microsistemas y MEMS Circuitos y sistemas electrónicos |
| Resumen: |
Este libro analiza enfoques analÃticos y modelos de los efectos del voltaje de ruptura (BV) en transistores basados ​​en grafeno. Presenta modelos semianalÃticos para el campo eléctrico lateral, la longitud de la región de saturación de velocidad (LVSR), el coeficiente de ionización (α) y el voltaje de ruptura (BV) de transistores de efecto de campo de nanocintas de grafeno (GNRFET) de puerta simple y doble. La aplicación de la ley de Gauss en las regiones de drenaje y fuente se emplea para derivar ecuaciones de potencial superficial y campo eléctrico lateral. Luego se calcula LVSR como una solución del potencial superficial en condiciones de saturación. El coeficiente de ionización se modela y calcula derivando ecuaciones para la probabilidad de colisiones en modos balÃsticos y de deriva basadas en la teorÃa de la ionización de la deriva afortunada. La energÃa umbral de ionización se calcula mediante simulación y se deriva semianalÃticamente una ecuación empÃrica. Por último, se emplea la condición de ruptura de avalancha para calcular el BV lateral. Sobre la base de esto, se proponen modelos analÃticos y semianalÃticos simples para LVSR y BV, que podrÃan usarse en el diseño y optimización de dispositivos y sensores semiconductores. Las ecuaciones propuestas se utilizan para examinar BV en diferentes longitudes de canal, voltajes de suministro, espesor de óxido, anchos de GNR y voltajes de compuerta. Los resultados de la simulación muestran que el voltaje de funcionamiento de los FET podrÃa ser tan bajo como 0,25 V para evitar averÃas. Sin embargo, después de la optimización, puede llegar hasta 1,5 V. Este trabajo es útil para los investigadores que trabajan en el área de los transistores basados ​​en nanocintas de grafeno. |
| Nota de contenido: |
Introduction on Scaling Issues of Conventional Semiconductors -- Basic Concept of Field Effect Transistors -- Methodology for Modelling of Surface Potemntial, Ionization and Breakdown of Graphene Field Effect Transistors -- Results and Discussion on Ionization and Breakdown of Grapehene Field Efffect Transistor -- Conclusion and Futureworks on High Voltage Application of Graphene. |
| En lÃnea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
|  |