Advanced Transmission Electron Microscopy / Zuo, Jian Min  

Público ISBD Ningún comentario para este título. Título : Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience Tipo de documento: documento electrónico Autores: Zuo, Jian Min, ; Spence, John C.H, Mención de edición: 1 ed. Editorial: New York, N.Y. [USA] : Springer Fecha de publicación: 2017 Número de páginas: XXVI, 729 p. 310 ilustraciones, 218 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-1-4939-6607-3 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Material  Láseres  Nanoquímica  Nanociencia  Nanotecnología  Materia Condensada  Caracterización y Técnica Analítica  Láser  Nanofísica  Física de la Materia Condensada Clasificación: Resumen: Este volumen amplía y actualiza la cobertura del libro clásico de 1992 de los autores, "Electron Microdiffraction". Como lo indica el título, el enfoque del libro ha cambiado de la microdifracción de electrones, o difracción de electrones de haz convergente, a la nanodifracción de electrones y las aplicaciones de la difracción de electrones de monocristales, así como al análisis estructural general de monocristales, polvos y nanoestructuras. Microscopía electrónica de transmisión avanzada proporciona un tratamiento integral de la teoría y la práctica, y está escrito en un nivel adecuado para estudiantes avanzados de pregrado y posgrado e investigadores en ciencia de materiales, química y física. Se proporcionan guías prácticas para la interpretación y simulación de patrones de difracción de electrones. Nota de contenido: Introduction and historical background -- Electron Waves and Wave Propagation -- The geometry of electron diffraction patterns -- Kinematical Theory of Electron Diffraction -- Dynamical Theory of Electron Diffraction for Perfect Crystals -- Electron optics -- Lens aberrations and Aberration Correction -- Electron Sources -- Electron Detectors -- Instrumentation and experimental techniques -- Crystal symmetry -- Crystal structure and bonding -- Diffuse Scattering -- Atomic resolution electron imaging -- Imaging and characterization of crystal defects -- Strain Measurements and Mapping -- Structure of Nanocrystals, Nanoparticles and Nanotubes. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience [documento electrónico] / Zuo, Jian Min, ; Spence, John C.H,  . -  1 ed.  . - New York, N.Y. [USA] : Springer, 2017 . - XXVI, 729 p. 310 ilustraciones, 218 ilustraciones en color. ISBN : 978-1-4939-6607-3 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Material  Láseres  Nanoquímica  Nanociencia  Nanotecnología  Materia Condensada  Caracterización y Técnica Analítica  Láser  Nanofísica  Física de la Materia Condensada Clasificación: Resumen: Este volumen amplía y actualiza la cobertura del libro clásico de 1992 de los autores, "Electron Microdiffraction". Como lo indica el título, el enfoque del libro ha cambiado de la microdifracción de electrones, o difracción de electrones de haz convergente, a la nanodifracción de electrones y las aplicaciones de la difracción de electrones de monocristales, así como al análisis estructural general de monocristales, polvos y nanoestructuras. Microscopía electrónica de transmisión avanzada proporciona un tratamiento integral de la teoría y la práctica, y está escrito en un nivel adecuado para estudiantes avanzados de pregrado y posgrado e investigadores en ciencia de materiales, química y física. Se proporcionan guías prácticas para la interpretación y simulación de patrones de difracción de electrones. Nota de contenido: Introduction and historical background -- Electron Waves and Wave Propagation -- The geometry of electron diffraction patterns -- Kinematical Theory of Electron Diffraction -- Dynamical Theory of Electron Diffraction for Perfect Crystals -- Electron optics -- Lens aberrations and Aberration Correction -- Electron Sources -- Electron Detectors -- Instrumentation and experimental techniques -- Crystal symmetry -- Crystal structure and bonding -- Diffuse Scattering -- Atomic resolution electron imaging -- Imaging and characterization of crystal defects -- Strain Measurements and Mapping -- Structure of Nanocrystals, Nanoparticles and Nanotubes. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]

Springer Handbook of Microscopy / Hawkes, Peter W. ; Spence, John C.H  

Público ISBD Ningún comentario para este título. Título : Springer Handbook of Microscopy Tipo de documento: documento electrónico Autores: Hawkes, Peter W., ; Spence, John C.H, Mención de edición: 1 ed. Editorial: [s.l.] : Springer Fecha de publicación: 2019 Número de páginas: XXXII, 1543 p. 1140 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-3-030-00069-1 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Material  Análisis de espectro  Biofísica  Caracterización y Técnica Analítica  Espectroscopia  Bioanálisis y Bioimagen Clasificación: Resumen: Este libro presenta reseñas de destacados expertos sobre los métodos y aplicaciones de las formas modernas de microscopía. Los recientes premios Nobel otorgados a la microscopía óptica de súper resolución y la microscopía crioelectrónica han demostrado las ricas oportunidades científicas para la investigación en microscopías novedosas. Premios Nobel anteriores por microscopía electrónica (el instrumento en sí y sus aplicaciones en biología), microscopía de sonda de barrido y holografía son un recordatorio del papel central de la microscopía en la ciencia moderna, desde el estudio de nanoestructuras en ciencia de materiales, física y química hasta biología estructural. Se dedican capítulos separados a microscopías ópticas confocales, fluorescentes y novedosas relacionadas, imágenes difractivas coherentes, microscopía de sonda de barrido, microscopía electrónica de transmisión en todos sus modos, desde aberración corregida y analítica hasta microscopía electrónica de baja energía in situ y resuelta en el tiempo, microscopía fotoelectrónica. , microscopía crioelectrónica en biología y también microscopía iónica. Además de servir como referencia esencial para investigadores y profesores en campos como la ciencia de los materiales, la física de la materia condensada, la química del estado sólido, la biología estructural y las ciencias moleculares en general, el Springer Handbook of Microscopy es un documento unificado, coherente y pedagógicamente atractivo. Texto para estudiantes avanzados que necesitan una guía autorizada pero accesible para la ciencia y la práctica de la microscopía. Nota de contenido: Part A: Electron and Ion Microscopy -- Kirkland et al.: Atomic Resolution Transmission Electron Microscopy -- Nellist: Scanning Transmission Electron Microscopy -- Ross & Minor: In situ Transmission Electron Microscopy -- Plitzko & Baumeister: Crytoelectron TEM -- Erdmann et al: Scanning Electron Microscopy -- Thiel: Variable Pressure Scanning Electron Microscopy -- Botton, Pradhudev: Analytical Electron Microscopy -- Campbell et al: High-Speed Electron Microscopy -- Bauer: LEEM, SPLEEM and SPELEEM -- Feng & Scholl: Photoemission Electron Microscopy -- Tromp: Spectroscopy with the Low Energy Electron Microscope -- Van Aert: Model-Based Electron Microscopy -- Hawkes & Krivanek: Aberration Correctors, Monochromators, Spectrometer -- Hlawacek: Ion Microscopy.-Kelly: Atom-Probe Tomography -- Part B: Holography, Ptychography and Diffraction -- Dunin-Borkowski et al.: Electron Holography.-Rodenburg & Maiden: Ptychography -- Zuo: Electron Nanodiffraction -- Musumeci & Li: High-Energy Time-Resolved Electron Diffraction -- Spence: Diffractive Imaging of Single Particles -- Part C: Photon-based Microscopy -- Diaspro et al: Fluorescence Microscopy -- Sahl et al.: Far-Field Fluorescence Microscopy -- Jacobson et al: Zone-Plate X-Ray Microscopy -- Lin et al: Microcomputed Tomography -- Part D: Applied Microscopy -- Huey et al: Scanning Probe Microscopy in Materials Science -- Leary & Midgeley: Electron Tomography in Materials Science -- Sutter: Scanning Tunneling Microscopy in Surface Science -- Hamidian et al: Visualizing electronic quantum matter -- Ma et al (Terasaki): Microscopy of Nanoporous Crystals -- Wen: Biomedical X-Ray Phase-Contrast Imaging and Tomography -- Amrein & Stamov: Atomic Force Microscopy in the Life Sciences -- Jones: Microscopy in Forensic Sciences. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Springer Handbook of Microscopy [documento electrónico] / Hawkes, Peter W., ; Spence, John C.H,  . -  1 ed.  . - [s.l.] : Springer, 2019 . - XXXII, 1543 p. 1140 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-030-00069-1 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Material  Análisis de espectro  Biofísica  Caracterización y Técnica Analítica  Espectroscopia  Bioanálisis y Bioimagen Clasificación: Resumen: Este libro presenta reseñas de destacados expertos sobre los métodos y aplicaciones de las formas modernas de microscopía. Los recientes premios Nobel otorgados a la microscopía óptica de súper resolución y la microscopía crioelectrónica han demostrado las ricas oportunidades científicas para la investigación en microscopías novedosas. Premios Nobel anteriores por microscopía electrónica (el instrumento en sí y sus aplicaciones en biología), microscopía de sonda de barrido y holografía son un recordatorio del papel central de la microscopía en la ciencia moderna, desde el estudio de nanoestructuras en ciencia de materiales, física y química hasta biología estructural. Se dedican capítulos separados a microscopías ópticas confocales, fluorescentes y novedosas relacionadas, imágenes difractivas coherentes, microscopía de sonda de barrido, microscopía electrónica de transmisión en todos sus modos, desde aberración corregida y analítica hasta microscopía electrónica de baja energía in situ y resuelta en el tiempo, microscopía fotoelectrónica. , microscopía crioelectrónica en biología y también microscopía iónica. Además de servir como referencia esencial para investigadores y profesores en campos como la ciencia de los materiales, la física de la materia condensada, la química del estado sólido, la biología estructural y las ciencias moleculares en general, el Springer Handbook of Microscopy es un documento unificado, coherente y pedagógicamente atractivo. Texto para estudiantes avanzados que necesitan una guía autorizada pero accesible para la ciencia y la práctica de la microscopía. Nota de contenido: Part A: Electron and Ion Microscopy -- Kirkland et al.: Atomic Resolution Transmission Electron Microscopy -- Nellist: Scanning Transmission Electron Microscopy -- Ross & Minor: In situ Transmission Electron Microscopy -- Plitzko & Baumeister: Crytoelectron TEM -- Erdmann et al: Scanning Electron Microscopy -- Thiel: Variable Pressure Scanning Electron Microscopy -- Botton, Pradhudev: Analytical Electron Microscopy -- Campbell et al: High-Speed Electron Microscopy -- Bauer: LEEM, SPLEEM and SPELEEM -- Feng & Scholl: Photoemission Electron Microscopy -- Tromp: Spectroscopy with the Low Energy Electron Microscope -- Van Aert: Model-Based Electron Microscopy -- Hawkes & Krivanek: Aberration Correctors, Monochromators, Spectrometer -- Hlawacek: Ion Microscopy.-Kelly: Atom-Probe Tomography -- Part B: Holography, Ptychography and Diffraction -- Dunin-Borkowski et al.: Electron Holography.-Rodenburg & Maiden: Ptychography -- Zuo: Electron Nanodiffraction -- Musumeci & Li: High-Energy Time-Resolved Electron Diffraction -- Spence: Diffractive Imaging of Single Particles -- Part C: Photon-based Microscopy -- Diaspro et al: Fluorescence Microscopy -- Sahl et al.: Far-Field Fluorescence Microscopy -- Jacobson et al: Zone-Plate X-Ray Microscopy -- Lin et al: Microcomputed Tomography -- Part D: Applied Microscopy -- Huey et al: Scanning Probe Microscopy in Materials Science -- Leary & Midgeley: Electron Tomography in Materials Science -- Sutter: Scanning Tunneling Microscopy in Surface Science -- Hamidian et al: Visualizing electronic quantum matter -- Ma et al (Terasaki): Microscopy of Nanoporous Crystals -- Wen: Biomedical X-Ray Phase-Contrast Imaging and Tomography -- Amrein & Stamov: Atomic Force Microscopy in the Life Sciences -- Jones: Microscopy in Forensic Sciences. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]

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