Advanced Transmission Electron Microscopy / Zuo, Jian Min  

Público ISBD Ningún comentario para este título. Título : Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience Tipo de documento: documento electrónico Autores: Zuo, Jian Min, ; Spence, John C.H, Mención de edición: 1 ed. Editorial: New York, N.Y. [USA] : Springer Fecha de publicación: 2017 Número de páginas: XXVI, 729 p. 310 ilustraciones, 218 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-1-4939-6607-3 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Material  Láseres  Nanoquímica  Nanociencia  Nanotecnología  Materia Condensada  Caracterización y Técnica Analítica  Láser  Nanofísica  Física de la Materia Condensada Clasificación: Resumen: Este volumen amplía y actualiza la cobertura del libro clásico de 1992 de los autores, "Electron Microdiffraction". Como lo indica el título, el enfoque del libro ha cambiado de la microdifracción de electrones, o difracción de electrones de haz convergente, a la nanodifracción de electrones y las aplicaciones de la difracción de electrones de monocristales, así como al análisis estructural general de monocristales, polvos y nanoestructuras. Microscopía electrónica de transmisión avanzada proporciona un tratamiento integral de la teoría y la práctica, y está escrito en un nivel adecuado para estudiantes avanzados de pregrado y posgrado e investigadores en ciencia de materiales, química y física. Se proporcionan guías prácticas para la interpretación y simulación de patrones de difracción de electrones. Nota de contenido: Introduction and historical background -- Electron Waves and Wave Propagation -- The geometry of electron diffraction patterns -- Kinematical Theory of Electron Diffraction -- Dynamical Theory of Electron Diffraction for Perfect Crystals -- Electron optics -- Lens aberrations and Aberration Correction -- Electron Sources -- Electron Detectors -- Instrumentation and experimental techniques -- Crystal symmetry -- Crystal structure and bonding -- Diffuse Scattering -- Atomic resolution electron imaging -- Imaging and characterization of crystal defects -- Strain Measurements and Mapping -- Structure of Nanocrystals, Nanoparticles and Nanotubes. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience [documento electrónico] / Zuo, Jian Min, ; Spence, John C.H,  . -  1 ed.  . - New York, N.Y. [USA] : Springer, 2017 . - XXVI, 729 p. 310 ilustraciones, 218 ilustraciones en color. ISBN : 978-1-4939-6607-3 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Material  Láseres  Nanoquímica  Nanociencia  Nanotecnología  Materia Condensada  Caracterización y Técnica Analítica  Láser  Nanofísica  Física de la Materia Condensada Clasificación: Resumen: Este volumen amplía y actualiza la cobertura del libro clásico de 1992 de los autores, "Electron Microdiffraction". Como lo indica el título, el enfoque del libro ha cambiado de la microdifracción de electrones, o difracción de electrones de haz convergente, a la nanodifracción de electrones y las aplicaciones de la difracción de electrones de monocristales, así como al análisis estructural general de monocristales, polvos y nanoestructuras. Microscopía electrónica de transmisión avanzada proporciona un tratamiento integral de la teoría y la práctica, y está escrito en un nivel adecuado para estudiantes avanzados de pregrado y posgrado e investigadores en ciencia de materiales, química y física. Se proporcionan guías prácticas para la interpretación y simulación de patrones de difracción de electrones. Nota de contenido: Introduction and historical background -- Electron Waves and Wave Propagation -- The geometry of electron diffraction patterns -- Kinematical Theory of Electron Diffraction -- Dynamical Theory of Electron Diffraction for Perfect Crystals -- Electron optics -- Lens aberrations and Aberration Correction -- Electron Sources -- Electron Detectors -- Instrumentation and experimental techniques -- Crystal symmetry -- Crystal structure and bonding -- Diffuse Scattering -- Atomic resolution electron imaging -- Imaging and characterization of crystal defects -- Strain Measurements and Mapping -- Structure of Nanocrystals, Nanoparticles and Nanotubes. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]

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