Advanced Transmission Electron Microscopy / Zuo, Jian Min  

Público ISBD Ningún comentario para este registro. Título : Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience Tipo de documento: documento electrónico Autores: Zuo, Jian Min, ; Spence, John C.H, Mención de edición: 1 ed. Editorial: New york [USA] : Springer Fecha de publicación: 2017 Número de páginas: XXVI, 729 p. 310 ilustraciones, 218 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-1-4939-6607-3 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Material  Láseres  Nanoquímica  Nanociencia  Nanotecnología  Materia Condensada  Caracterización y Técnica Analítica  Láser  Nanofísica  Física de la Materia Condensada Clasificación: 620.112 Resumen: Este volumen amplía y actualiza la cobertura del libro clásico de 1992 de los autores, "Electron Microdiffraction". Como lo indica el título, el enfoque del libro ha cambiado de la microdifracción de electrones, o difracción de electrones de haz convergente, a la nanodifracción de electrones y las aplicaciones de la difracción de electrones de monocristales, así como al análisis estructural general de monocristales, polvos y nanoestructuras. Microscopía electrónica de transmisión avanzada proporciona un tratamiento integral de la teoría y la práctica, y está escrito en un nivel adecuado para estudiantes avanzados de pregrado y posgrado e investigadores en ciencia de materiales, química y física. Se proporcionan guías prácticas para la interpretación y simulación de patrones de difracción de electrones. Nota de contenido: Introduction and historical background -- Electron Waves and Wave Propagation -- The geometry of electron diffraction patterns -- Kinematical Theory of Electron Diffraction -- Dynamical Theory of Electron Diffraction for Perfect Crystals -- Electron optics -- Lens aberrations and Aberration Correction -- Electron Sources -- Electron Detectors -- Instrumentation and experimental techniques -- Crystal symmetry -- Crystal structure and bonding -- Diffuse Scattering -- Atomic resolution electron imaging -- Imaging and characterization of crystal defects -- Strain Measurements and Mapping -- Structure of Nanocrystals, Nanoparticles and Nanotubes. Tipo de medio : Computadora Summary : This volume expands and updates the coverage in the authors' classic 1992 book, "Electron Microdiffraction." As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction, or convergent beam electron diffraction, to electron nanodiffraction and the applications of electron diffraction from single crystals as well as general structure analysis of single crystals, powders, and nanostructures. Advanced Transmission Electron Microscopy provides a comprehensive treatment of theory and practice, and is written at a level suitable for advanced undergraduate students and graduate students and researchers in materials science, chemistry, and physics. Practical guides are provided for interpretation and simulation of electron diffraction patterns. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience [documento electrónico] / Zuo, Jian Min, ; Spence, John C.H,  . -  1 ed.  . - New york [USA] : Springer, 2017 . - XXVI, 729 p. 310 ilustraciones, 218 ilustraciones en color. ISBN : 978-1-4939-6607-3 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Material  Láseres  Nanoquímica  Nanociencia  Nanotecnología  Materia Condensada  Caracterización y Técnica Analítica  Láser  Nanofísica  Física de la Materia Condensada Clasificación: 620.112 Resumen: Este volumen amplía y actualiza la cobertura del libro clásico de 1992 de los autores, "Electron Microdiffraction". Como lo indica el título, el enfoque del libro ha cambiado de la microdifracción de electrones, o difracción de electrones de haz convergente, a la nanodifracción de electrones y las aplicaciones de la difracción de electrones de monocristales, así como al análisis estructural general de monocristales, polvos y nanoestructuras. Microscopía electrónica de transmisión avanzada proporciona un tratamiento integral de la teoría y la práctica, y está escrito en un nivel adecuado para estudiantes avanzados de pregrado y posgrado e investigadores en ciencia de materiales, química y física. Se proporcionan guías prácticas para la interpretación y simulación de patrones de difracción de electrones. Nota de contenido: Introduction and historical background -- Electron Waves and Wave Propagation -- The geometry of electron diffraction patterns -- Kinematical Theory of Electron Diffraction -- Dynamical Theory of Electron Diffraction for Perfect Crystals -- Electron optics -- Lens aberrations and Aberration Correction -- Electron Sources -- Electron Detectors -- Instrumentation and experimental techniques -- Crystal symmetry -- Crystal structure and bonding -- Diffuse Scattering -- Atomic resolution electron imaging -- Imaging and characterization of crystal defects -- Strain Measurements and Mapping -- Structure of Nanocrystals, Nanoparticles and Nanotubes. Tipo de medio : Computadora Summary : This volume expands and updates the coverage in the authors' classic 1992 book, "Electron Microdiffraction." As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction, or convergent beam electron diffraction, to electron nanodiffraction and the applications of electron diffraction from single crystals as well as general structure analysis of single crystals, powders, and nanostructures. Advanced Transmission Electron Microscopy provides a comprehensive treatment of theory and practice, and is written at a level suitable for advanced undergraduate students and graduate students and researchers in materials science, chemistry, and physics. Practical guides are provided for interpretation and simulation of electron diffraction patterns. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]

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