A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy / Ul-Hamid, Anwar  

Público ISBD Ningún comentario para este registro. Título : A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy Tipo de documento: documento electrónico Autores: Ul-Hamid, Anwar, Mención de edición: 1 ed. Editorial: [s.l.] : Springer Fecha de publicación: 2018 Número de páginas: XXII, 402 p. 220 ilustraciones, 98 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-3-319-98482-7 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Material  Análisis de espectro  Microtecnología  Sistemas micro electromecánicos  Biofísica  Nanotecnología  Caracterización y Técnica Analítica  Espectroscopia  Microsistemas y MEMS  Bioanálisis y Bioimagen Clasificación: 620.112 Resumen: Este libro fue desarrollado con el objetivo de proporcionar un texto de fácil comprensión para aquellos usuarios del microscopio electrónico de barrido (SEM) que tienen poca o ninguna experiencia en el área. El SEM se utiliza habitualmente para estudiar la estructura de la superficie y la química de una amplia gama de materiales biológicos y sintéticos en escalas de micrómetro a nanómetro. La facilidad de uso, la preparación de muestras típicamente sencilla y la interpretación sencilla de las imágenes, combinadas con una alta resolución, una gran profundidad de campo y la capacidad de realizar análisis microquímicos y cristalográficos, han hecho de la microscopía electrónica de barrido una de las técnicas más poderosas y versátiles para caracterización hoy. De hecho, el SEM es una herramienta vital para la caracterización de materiales nanoestructurados y el desarrollo de la nanotecnología. Sin embargo, su amplio uso por parte de profesionales con diversos antecedentes técnicos (incluidas ciencias de la vida, ciencias de los materiales, ingeniería, ciencia forense, mineralogía, etc., y en diversos sectores del gobierno, la industria y el mundo académico) enfatiza la necesidad de un texto introductorio que proporcione los conceptos básicos de imágenes SEM efectivas. Una guía para principiantes en microscopía electrónica de barrido explica la instrumentación, el funcionamiento, la interpretación de imágenes y la preparación de muestras en un texto amplio pero conciso y práctico, que trata la teoría esencial de la interacción muestra-haz y la formación de imágenes de una manera que pueda ser comprendida sin esfuerzo por el Usuario novato de SEM. Este libro proporciona una introducción concisa y accesible a los conceptos básicos de SEM. Incluye una gran cantidad de ilustraciones elegidas específicamente para ayudar a los lectores a comprender los conceptos clave. Destaca los avances recientes en instrumentación, imágenes y técnicas de preparación de muestras. Ofrece ejemplos extraídos de una variedad de aplicaciones que atraen. a profesionales de diversos orígenes. Nota de contenido: Introduction -- Components of the SEM -- Beam-Specimen Interaction -- Imaging with the SEM -- Microchemical Analysis with the SEM -- Sample Preparation. Tipo de medio : Computadora Summary : This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds—including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in varioussectors of government, industry, and academia—emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging. A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This book provides a concise and accessible introduction to the essentials of SEM includes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key concepts highlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniques offers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy [documento electrónico] / Ul-Hamid, Anwar,  . -  1 ed.  . - [s.l.] : Springer, 2018 . - XXII, 402 p. 220 ilustraciones, 98 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-319-98482-7 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Material  Análisis de espectro  Microtecnología  Sistemas micro electromecánicos  Biofísica  Nanotecnología  Caracterización y Técnica Analítica  Espectroscopia  Microsistemas y MEMS  Bioanálisis y Bioimagen Clasificación: 620.112 Resumen: Este libro fue desarrollado con el objetivo de proporcionar un texto de fácil comprensión para aquellos usuarios del microscopio electrónico de barrido (SEM) que tienen poca o ninguna experiencia en el área. El SEM se utiliza habitualmente para estudiar la estructura de la superficie y la química de una amplia gama de materiales biológicos y sintéticos en escalas de micrómetro a nanómetro. La facilidad de uso, la preparación de muestras típicamente sencilla y la interpretación sencilla de las imágenes, combinadas con una alta resolución, una gran profundidad de campo y la capacidad de realizar análisis microquímicos y cristalográficos, han hecho de la microscopía electrónica de barrido una de las técnicas más poderosas y versátiles para caracterización hoy. De hecho, el SEM es una herramienta vital para la caracterización de materiales nanoestructurados y el desarrollo de la nanotecnología. Sin embargo, su amplio uso por parte de profesionales con diversos antecedentes técnicos (incluidas ciencias de la vida, ciencias de los materiales, ingeniería, ciencia forense, mineralogía, etc., y en diversos sectores del gobierno, la industria y el mundo académico) enfatiza la necesidad de un texto introductorio que proporcione los conceptos básicos de imágenes SEM efectivas. Una guía para principiantes en microscopía electrónica de barrido explica la instrumentación, el funcionamiento, la interpretación de imágenes y la preparación de muestras en un texto amplio pero conciso y práctico, que trata la teoría esencial de la interacción muestra-haz y la formación de imágenes de una manera que pueda ser comprendida sin esfuerzo por el Usuario novato de SEM. Este libro proporciona una introducción concisa y accesible a los conceptos básicos de SEM. Incluye una gran cantidad de ilustraciones elegidas específicamente para ayudar a los lectores a comprender los conceptos clave. Destaca los avances recientes en instrumentación, imágenes y técnicas de preparación de muestras. Ofrece ejemplos extraídos de una variedad de aplicaciones que atraen. a profesionales de diversos orígenes. Nota de contenido: Introduction -- Components of the SEM -- Beam-Specimen Interaction -- Imaging with the SEM -- Microchemical Analysis with the SEM -- Sample Preparation. Tipo de medio : Computadora Summary : This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds—including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in varioussectors of government, industry, and academia—emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging. A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This book provides a concise and accessible introduction to the essentials of SEM includes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key concepts highlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniques offers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]

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