Autor Chen, Degang
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Título : Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements Tipo de documento: documento electrónico Autores: Zhuang, Yuming, Autor ; Chen, Degang, Autor Mención de edición: 1 ed. Editorial: [s.l.] : Springer Fecha de publicación: 2018 Número de páginas: XIV, 170 p. 89 ilustraciones, 88 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-3-319-77718-4 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Circuitos electrónicos Electrónica Circuitos y sistemas electrónicos Electrónica y Microelectrónica Instrumentación Índice Dewey: 6.213.815 Resumen: Este libro presenta una familia de nuevos métodos para pruebas espectrales precisas y sólidas y llena un vacío de información, ya que los requisitos de las pruebas estándar se han vuelto cada vez más desafiantes en las pruebas recientes de alta precisión, especialmente porque el rendimiento del dispositivo ha seguido mejorando. Los ingenieros de pruebas podrán configurar con precisión sus dispositivos y sistemas con una configuración de prueba mucho más simple, una complejidad mucho menor y un costo mucho menor. Nota de contenido: Chapter 1. Introduction -- Chapter 2.Algorithms for accurate spectral analysis in the presence of arbitrary non-coherency and large distortion -- Chapter 3.Accurate spectral testing with arbitrary non- coherency in sampling and simultaneous drifts in amplitude and frequency -- Chapter 4.High-purity sine wave generation using nonlinear DAC with pre-distortion based on low-cost accurate DAC-ADC co-testing -- Chapter 5.Low cost ultra-pure sine wave generation with self-calibration -- Chapter 6.Accurate spectral testing with non-coherent sampling for multi-tone test -- Chapter 7.Accurate spectral testing with impure test stimulus for multi-tone test -- Chapter 8.Multi-tone sine wave generation achieving the theoretical minimum of peak-to-average power ratio -- Chapter 9.Accurate linearity testing using low purity stimulus robust against flicker noise -- Chapter 10.Summary. En línea: https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Link: https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements [documento electrónico] / Zhuang, Yuming, Autor ; Chen, Degang, Autor . - 1 ed. . - [s.l.] : Springer, 2018 . - XIV, 170 p. 89 ilustraciones, 88 ilustraciones en color.
ISBN : 978-3-319-77718-4
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
Palabras clave: Circuitos electrónicos Electrónica Circuitos y sistemas electrónicos Electrónica y Microelectrónica Instrumentación Índice Dewey: 6.213.815 Resumen: Este libro presenta una familia de nuevos métodos para pruebas espectrales precisas y sólidas y llena un vacío de información, ya que los requisitos de las pruebas estándar se han vuelto cada vez más desafiantes en las pruebas recientes de alta precisión, especialmente porque el rendimiento del dispositivo ha seguido mejorando. Los ingenieros de pruebas podrán configurar con precisión sus dispositivos y sistemas con una configuración de prueba mucho más simple, una complejidad mucho menor y un costo mucho menor. Nota de contenido: Chapter 1. Introduction -- Chapter 2.Algorithms for accurate spectral analysis in the presence of arbitrary non-coherency and large distortion -- Chapter 3.Accurate spectral testing with arbitrary non- coherency in sampling and simultaneous drifts in amplitude and frequency -- Chapter 4.High-purity sine wave generation using nonlinear DAC with pre-distortion based on low-cost accurate DAC-ADC co-testing -- Chapter 5.Low cost ultra-pure sine wave generation with self-calibration -- Chapter 6.Accurate spectral testing with non-coherent sampling for multi-tone test -- Chapter 7.Accurate spectral testing with impure test stimulus for multi-tone test -- Chapter 8.Multi-tone sine wave generation achieving the theoretical minimum of peak-to-average power ratio -- Chapter 9.Accurate linearity testing using low purity stimulus robust against flicker noise -- Chapter 10.Summary. En línea: https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Link: https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i
