Autor Kirkland, Earl J.
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TÃtulo : Advanced Computing in Electron Microscopy Tipo de documento: documento electrónico Autores: Kirkland, Earl J., Autor Mención de edición: 3 ed. Editorial: [s.l.] : Springer Fecha de publicación: 2020 Número de páginas: XII, 354 p. 146 ilustraciones, 8 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-3-030-33260-0 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Palabras clave: Análisis de espectro Visión por computador Material BiofÃsica Espectroscopia Caracterización y Técnica AnalÃtica Bioanálisis y Bioimagen Ãndice Dewey: 543 Química analítica Resumen: Esta edición actualizada y revisada de un trabajo clásico proporciona un resumen de los métodos para el cálculo numérico de imágenes de microscopio electrónico de transmisión de barrido y convencional de alta resolución. En los lÃmites de resolución, los artefactos de la imagen debidos al instrumento y la interacción de la muestra pueden complicar la interpretación de la imagen. Los cálculos de imágenes pueden ayudar al usuario a interpretar y comprender información de alta resolución en micrografÃas electrónicas registradas. El libro contiene secciones ampliadas sobre corrección de aberraciones, incluida una discusión detallada de las aberraciones de orden superior (multipolares) y su efecto en las imágenes de alta resolución, nuevos modos de imágenes como ABF (campo brillante anular) y los últimos desarrollos en el procesamiento paralelo utilizando GPU ( unidades de procesamiento gráfico), asà como referencias actualizadas. Los usuarios principiantes y experimentados a nivel avanzado de pregrado o posgrado encontrarán que el libro es una guÃa única y esencial para la teorÃa y los métodos de computación en microscopÃa electrónica. Nota de contenido: Introduction -- The Transmission Electron Microscope -- Some Image Approximations -- Sampling and the Fast Fourier Transform -- Calculation of Images of Thin Specimens -- Theory of Calculation of Images of Thick Specimens -- Multislice Applications and Examples -- The Programss -- App. A: Plotting Transfer Functions -- App. B: The Fourier Projection Theorem -- App. C: Atomic Potentials and Scattering Factors -- App. D: The Inverse Problem -- App. E: Bilinear Interpolation -- App. F: 3D Perspective View. En lÃnea: https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Link: https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i Advanced Computing in Electron Microscopy [documento electrónico] / Kirkland, Earl J., Autor . - 3 ed. . - [s.l.] : Springer, 2020 . - XII, 354 p. 146 ilustraciones, 8 ilustraciones en color.
ISBN : 978-3-030-33260-0
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
Palabras clave: Análisis de espectro Visión por computador Material BiofÃsica Espectroscopia Caracterización y Técnica AnalÃtica Bioanálisis y Bioimagen Ãndice Dewey: 543 Química analítica Resumen: Esta edición actualizada y revisada de un trabajo clásico proporciona un resumen de los métodos para el cálculo numérico de imágenes de microscopio electrónico de transmisión de barrido y convencional de alta resolución. En los lÃmites de resolución, los artefactos de la imagen debidos al instrumento y la interacción de la muestra pueden complicar la interpretación de la imagen. Los cálculos de imágenes pueden ayudar al usuario a interpretar y comprender información de alta resolución en micrografÃas electrónicas registradas. El libro contiene secciones ampliadas sobre corrección de aberraciones, incluida una discusión detallada de las aberraciones de orden superior (multipolares) y su efecto en las imágenes de alta resolución, nuevos modos de imágenes como ABF (campo brillante anular) y los últimos desarrollos en el procesamiento paralelo utilizando GPU ( unidades de procesamiento gráfico), asà como referencias actualizadas. Los usuarios principiantes y experimentados a nivel avanzado de pregrado o posgrado encontrarán que el libro es una guÃa única y esencial para la teorÃa y los métodos de computación en microscopÃa electrónica. Nota de contenido: Introduction -- The Transmission Electron Microscope -- Some Image Approximations -- Sampling and the Fast Fourier Transform -- Calculation of Images of Thin Specimens -- Theory of Calculation of Images of Thick Specimens -- Multislice Applications and Examples -- The Programss -- App. A: Plotting Transfer Functions -- App. B: The Fourier Projection Theorem -- App. C: Atomic Potentials and Scattering Factors -- App. D: The Inverse Problem -- App. E: Bilinear Interpolation -- App. F: 3D Perspective View. En lÃnea: https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Link: https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i
