A Practical Guide to Surface Metrology / Quinten, Michael  

Público ISBD Ningún comentario para este registro. Título : A Practical Guide to Surface Metrology Tipo de documento: documento electrónico Autores: Quinten, Michael, Mención de edición: 1 ed. Editorial: [s.l.] : Springer Fecha de publicación: 2019 Número de páginas: XXV, 230 p. 156 ilustraciones, 100 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-3-030-29454-0 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Medición  Instrumentos de medición  Material  Superficies (Física)  Superficies (Tecnología)  Peliculas delgadas  Materiales  Láseres  Instrumentación y ciencia de la medición  Caracterización y Técnica Analítica  Superficie e interfaz y película delgada  Superficies  Interfaces y Película Delgada  Ingeniería de Materiales  Láser Clasificación: 530.8 Resumen: Este libro ofrece una introducción genuinamente práctica a los sistemas ópticos y no ópticos más comunes utilizados para la metrología y caracterización de superficies, incluida orientación sobre mejores prácticas, calibración, ventajas y desventajas e interpretación de resultados. Permite al usuario seleccionar el mejor enfoque en un contexto determinado. La mayoría de los métodos en metrología de superficies se basan en la interacción de la luz o la radiación electromagnética (UV, NIR, IR), y se utilizan diferentes efectos ópticos para obtener una determinada respuesta óptica de la superficie; algunos de ellos registran sólo la intensidad reflejada o dispersada por la superficie, otros utilizan la interferencia de ondas EM para obtener una respuesta característica de la superficie. El libro cubre técnicas que van desde la microscopía (incluida la microscopía confocal, SNOM y holográfica digital) pasando por la interferometría (incluida la luz blanca, las longitudes de onda múltiples, la incidencia rasante y la cizalladura) hasta la reflectometría y elipsometría espectral. Los métodos no ópticos incluyen métodos táctiles (punta de lápiz, AFM), así como métodos capacitivos e inductivos (sensores capacitivos, sensores de corrientes parásitas). El libro proporciona: Descripción general de los principios de funcionamiento Descripción de ventajas y desventajas Números actualmente alcanzables para resoluciones, repetibilidad y reproducibilidad Ejemplos de aplicaciones del mundo real Un capítulo final analiza ejemplos en los que la combinación de diferentes técnicas de metrología de superficie en un sistema multisensor puede contribuir razonablemente a una mejor comprensión de las propiedades de las superficies, así como a una caracterización más rápida de las superficies en aplicaciones industriales. El libro está dirigido a científicos e ingenieros que utilizan dichos métodos para la medición y caracterización de superficies en una amplia gama de campos e industrias, incluida la electrónica, la energía, la automoción y la ingeniería médica. Nota de contenido: Preface -- Introduction to Surfaces and Surface Metrology -- Tactile Surface Metrology -- Capacitive And Inductive Surface Metrology -- Optical Surface Metrology- Physical Basics -- Optical Surface Metrology - Methods -- Imaging Methods - Multisensor - Systems - A Versatile Approach To Surface Metrology -- Appendix -- Index. Tipo de medio : Computadora Summary : This book offers a genuinely practical introduction to the most commonly encountered optical and non-optical systems used for the metrology and characterization of surfaces, including guidance on best practice, calibration, advantages and disadvantages, and interpretation of results. It enables the user to select the best approach in a given context. Most methods in surface metrology are based upon the interaction of light or electromagnetic radiation (UV, NIR, IR), and different optical effects are utilized to get a certain optical response from the surface; some of them record only the intensity reflected or scattered by the surface, others use interference of EM waves to obtain a characteristic response from the surface. The book covers techniques ranging from microscopy (including confocal, SNOM and digital holographic microscopy) through interferometry (including white light, multi-wavelength, grazing incidence and shearing) to spectral reflectometry and ellipsometry. The non-optical methods comprise tactile methods (stylus tip, AFM) as well as capacitive and inductive methods (capacitive sensors, eddy current sensors). The book provides: Overview of the working principles Description of advantages and disadvantages Currently achievable numbers for resolutions, repeatability, and reproducibility Examples of real-world applications A final chapter discusses examples where the combination of different surface metrology techniques in a multi-sensor system can reasonably contribute to a better understanding of surface properties as well as a faster characterization of surfaces in industrial applications. The book is aimed at scientists and engineers who use such methods for the measurement and characterization of surfaces across a wide range of fields and industries, including electronics, energy, automotive and medical engineering. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] A Practical Guide to Surface Metrology [documento electrónico] / Quinten, Michael,  . -  1 ed.  . - [s.l.] : Springer, 2019 . - XXV, 230 p. 156 ilustraciones, 100 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-030-29454-0 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Medición  Instrumentos de medición  Material  Superficies (Física)  Superficies (Tecnología)  Peliculas delgadas  Materiales  Láseres  Instrumentación y ciencia de la medición  Caracterización y Técnica Analítica  Superficie e interfaz y película delgada  Superficies  Interfaces y Película Delgada  Ingeniería de Materiales  Láser Clasificación: 530.8 Resumen: Este libro ofrece una introducción genuinamente práctica a los sistemas ópticos y no ópticos más comunes utilizados para la metrología y caracterización de superficies, incluida orientación sobre mejores prácticas, calibración, ventajas y desventajas e interpretación de resultados. Permite al usuario seleccionar el mejor enfoque en un contexto determinado. La mayoría de los métodos en metrología de superficies se basan en la interacción de la luz o la radiación electromagnética (UV, NIR, IR), y se utilizan diferentes efectos ópticos para obtener una determinada respuesta óptica de la superficie; algunos de ellos registran sólo la intensidad reflejada o dispersada por la superficie, otros utilizan la interferencia de ondas EM para obtener una respuesta característica de la superficie. El libro cubre técnicas que van desde la microscopía (incluida la microscopía confocal, SNOM y holográfica digital) pasando por la interferometría (incluida la luz blanca, las longitudes de onda múltiples, la incidencia rasante y la cizalladura) hasta la reflectometría y elipsometría espectral. Los métodos no ópticos incluyen métodos táctiles (punta de lápiz, AFM), así como métodos capacitivos e inductivos (sensores capacitivos, sensores de corrientes parásitas). El libro proporciona: Descripción general de los principios de funcionamiento Descripción de ventajas y desventajas Números actualmente alcanzables para resoluciones, repetibilidad y reproducibilidad Ejemplos de aplicaciones del mundo real Un capítulo final analiza ejemplos en los que la combinación de diferentes técnicas de metrología de superficie en un sistema multisensor puede contribuir razonablemente a una mejor comprensión de las propiedades de las superficies, así como a una caracterización más rápida de las superficies en aplicaciones industriales. El libro está dirigido a científicos e ingenieros que utilizan dichos métodos para la medición y caracterización de superficies en una amplia gama de campos e industrias, incluida la electrónica, la energía, la automoción y la ingeniería médica. Nota de contenido: Preface -- Introduction to Surfaces and Surface Metrology -- Tactile Surface Metrology -- Capacitive And Inductive Surface Metrology -- Optical Surface Metrology- Physical Basics -- Optical Surface Metrology - Methods -- Imaging Methods - Multisensor - Systems - A Versatile Approach To Surface Metrology -- Appendix -- Index. Tipo de medio : Computadora Summary : This book offers a genuinely practical introduction to the most commonly encountered optical and non-optical systems used for the metrology and characterization of surfaces, including guidance on best practice, calibration, advantages and disadvantages, and interpretation of results. It enables the user to select the best approach in a given context. Most methods in surface metrology are based upon the interaction of light or electromagnetic radiation (UV, NIR, IR), and different optical effects are utilized to get a certain optical response from the surface; some of them record only the intensity reflected or scattered by the surface, others use interference of EM waves to obtain a characteristic response from the surface. The book covers techniques ranging from microscopy (including confocal, SNOM and digital holographic microscopy) through interferometry (including white light, multi-wavelength, grazing incidence and shearing) to spectral reflectometry and ellipsometry. The non-optical methods comprise tactile methods (stylus tip, AFM) as well as capacitive and inductive methods (capacitive sensors, eddy current sensors). The book provides: Overview of the working principles Description of advantages and disadvantages Currently achievable numbers for resolutions, repeatability, and reproducibility Examples of real-world applications A final chapter discusses examples where the combination of different surface metrology techniques in a multi-sensor system can reasonably contribute to a better understanding of surface properties as well as a faster characterization of surfaces in industrial applications. The book is aimed at scientists and engineers who use such methods for the measurement and characterization of surfaces across a wide range of fields and industries, including electronics, energy, automotive and medical engineering. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]

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