Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation / Wang, Rongming ; Wang, Chen ; Zhang, Hongzhou ; Tao, Jing ; Bai, Xuedong  

Público ISBD Ningún comentario para este registro. Título : Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation Tipo de documento: documento electrónico Autores: Wang, Rongming, ; Wang, Chen, ; Zhang, Hongzhou, ; Tao, Jing, ; Bai, Xuedong, Mención de edición: 1 ed. Editorial: Singapore [Malasia] : Springer Fecha de publicación: 2018 Número de páginas: VII, 508 p. 333 ilustraciones, 26 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-981-1304545-- Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Nanociencia  Material  Análisis de espectro  Nanofísica  Caracterización y Técnica Analítica  Espectroscopia Clasificación: 530.41 Resumen: Este libro se centra en la óptica y la microscopía de partículas cargadas, así como en sus aplicaciones en las ciencias de los materiales. Al presentar una variedad de avances teóricos y metodológicos de vanguardia en microscopía electrónica y microanálisis, y examinar sus funciones cruciales en la investigación de materiales modernos, ofrece un recurso único para todos los investigadores que trabajan en ultramicroscopía y/o investigación de materiales. El libro aborda las crecientes oportunidades en este campo y presenta a los lectores los últimos avances en técnicas de microscopía de partículas cargadas. Muestra avances recientes en microscopía electrónica de barrido, microscopía electrónica de transmisión y microscopía de iones de helio, incluida la espectroscopia avanzada, la microscopía esférica corregida, la obtención de imágenes de iones enfocados y la microscopía in situ. Al cubrir estos y otros temas esenciales, el libro pretende facilitar el desarrollo de técnicas de microscopía, inspirar a jóvenes investigadores y hacer una valiosa contribución al campo. Nota de contenido: Electron/Ion Optics -- Scanning Electron Microscopy -- Transmission Electron Microscopy -- Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) -- Spectroscopy -- Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy and Its Applications -- In situ TEM: Theory and Applications -- Helium Ion Microscopy. Tipo de medio : Computadora Summary : This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research. The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation [documento electrónico] / Wang, Rongming, ; Wang, Chen, ; Zhang, Hongzhou, ; Tao, Jing, ; Bai, Xuedong,  . -  1 ed.  . - Singapore [Malasia] : Springer, 2018 . - VII, 508 p. 333 ilustraciones, 26 ilustraciones en color. ISBN : 978-981-1304545-- Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Nanociencia  Material  Análisis de espectro  Nanofísica  Caracterización y Técnica Analítica  Espectroscopia Clasificación: 530.41 Resumen: Este libro se centra en la óptica y la microscopía de partículas cargadas, así como en sus aplicaciones en las ciencias de los materiales. Al presentar una variedad de avances teóricos y metodológicos de vanguardia en microscopía electrónica y microanálisis, y examinar sus funciones cruciales en la investigación de materiales modernos, ofrece un recurso único para todos los investigadores que trabajan en ultramicroscopía y/o investigación de materiales. El libro aborda las crecientes oportunidades en este campo y presenta a los lectores los últimos avances en técnicas de microscopía de partículas cargadas. Muestra avances recientes en microscopía electrónica de barrido, microscopía electrónica de transmisión y microscopía de iones de helio, incluida la espectroscopia avanzada, la microscopía esférica corregida, la obtención de imágenes de iones enfocados y la microscopía in situ. Al cubrir estos y otros temas esenciales, el libro pretende facilitar el desarrollo de técnicas de microscopía, inspirar a jóvenes investigadores y hacer una valiosa contribución al campo. Nota de contenido: Electron/Ion Optics -- Scanning Electron Microscopy -- Transmission Electron Microscopy -- Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) -- Spectroscopy -- Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy and Its Applications -- In situ TEM: Theory and Applications -- Helium Ion Microscopy. Tipo de medio : Computadora Summary : This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research. The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]

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