Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals / Kay, Nicholas D.  

Público ISBD Ningún comentario para este registro. Título : Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach Tipo de documento: documento electrónico Autores: Kay, Nicholas D., Mención de edición: 1 ed. Editorial: [s.l.] : Springer Fecha de publicación: 2018 Número de páginas: XXI, 122 p. 67 ilustraciones, 14 ilustraciones en color. ISBN/ISSN/DL: 978-3-319-70181-3 Nota general: Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Superficies (Física)  Nanotecnología  Análisis de espectro  Nanociencia  Superficie e interfaz y película delgada  Espectroscopia  Nanofísica Clasificación: 530.417 Resumen: Esta tesis presenta un enfoque único de aplicación de microscopía de fuerza atómica para estudiar las propiedades nanoelectromecánicas de materiales 2D, proporcionando imágenes y diagramas generados por computadora (CGI) de alta resolución para ayudar a la comprensión y visualización de los lectores. El aislamiento del grafeno y, poco después, de una gran cantidad de otros materiales 2D ha despertado un gran interés en la comunidad científica tanto por su gama de propiedades extremadamente deseables como por sus propiedades récord. Entre estas propiedades se encuentran algunos de los módulos elásticos y resistencias a la tracción más altos jamás observados en la naturaleza. El trabajo, que se llevó a cabo en el departamento de Física de la Universidad de Lancaster junto con la Universidad de Manchester y el Laboratorio Nacional de Física, ofrece un nuevo enfoque para comprender las propiedades nanomecánicas y nanoelectromecánicas de materiales 2D mediante la utilización de la resolución a nanoescala y nanosegundos de la fuerza ultrasónica y la heterodina. microscopía de fuerza (UFM y HFM): ambas técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM) en modo de contacto. Utilizando este enfoque y desarrollando varias otras técnicas nuevas, los autores lograron sondear las propiedades mecánicas y del subsuelo de las muestras, que de otro modo permanecerían ocultas. Por último, mediante el uso de una nueva técnica, denominada microscopía de fuerza electrostática heterodina (E-HFM), los autores pudieron observar vibraciones electromecánicas a nanoescala con una resolución de nanómetros y nanosegundos, además de sondear el entorno electrostático local de dispositivos fabricados con materiales 2D. Nota de contenido: Introduction -- Background -- Materials and Methods -- Morphology of 2D Materials and their Heterostructures -- Nanomechanical Phenomena -- Nanoelectromechanical Phenomena -- Further Work and Future Directions -- Conclusion. Tipo de medio : Computadora Summary : This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and visualization. The isolation of graphene and, shortly after, a host of other 2D materials has attracted a great deal of interest in the scientific community for both their range of extremely desirable and their record-breaking properties. Amongst these properties are some of the highest elastic moduli and tensile strengths ever observed in nature. The work, which was undertaken at Lancaster University's Physics department in conjunction with the University of Manchester and the National Physical Laboratory, offers a new approach to understanding the nanomechanical and nanoelectromechanical properties of 2D materials by utilising the nanoscale and nanosecond resolution of ultrasonic force and heterodyne force microscopy (UFM and HFM) Ѐ“ both contact mode atomic force microscopy (AFM) techniques. Using this approach and developing several other new techniques the authors succeeded in probing samples' subsurface and mechanical properties, which would otherwise remain hidden. Lastly, by using a new technique, coined electrostatic heterodyne force microscopy (E-HFM), the authors were able to observe nanoscale electromechanical vibrations with a nanometre and nanosecond resolution, in addition to probing the local electrostatic environment of devices fabricated from 2D materials. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach [documento electrónico] / Kay, Nicholas D.,  . -  1 ed.  . - [s.l.] : Springer, 2018 . - XXI, 122 p. 67 ilustraciones, 14 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-319-70181-3 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. Idioma : Inglés (eng) Palabras clave: Superficies (Física)  Nanotecnología  Análisis de espectro  Nanociencia  Superficie e interfaz y película delgada  Espectroscopia  Nanofísica Clasificación: 530.417 Resumen: Esta tesis presenta un enfoque único de aplicación de microscopía de fuerza atómica para estudiar las propiedades nanoelectromecánicas de materiales 2D, proporcionando imágenes y diagramas generados por computadora (CGI) de alta resolución para ayudar a la comprensión y visualización de los lectores. El aislamiento del grafeno y, poco después, de una gran cantidad de otros materiales 2D ha despertado un gran interés en la comunidad científica tanto por su gama de propiedades extremadamente deseables como por sus propiedades récord. Entre estas propiedades se encuentran algunos de los módulos elásticos y resistencias a la tracción más altos jamás observados en la naturaleza. El trabajo, que se llevó a cabo en el departamento de Física de la Universidad de Lancaster junto con la Universidad de Manchester y el Laboratorio Nacional de Física, ofrece un nuevo enfoque para comprender las propiedades nanomecánicas y nanoelectromecánicas de materiales 2D mediante la utilización de la resolución a nanoescala y nanosegundos de la fuerza ultrasónica y la heterodina. microscopía de fuerza (UFM y HFM): ambas técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM) en modo de contacto. Utilizando este enfoque y desarrollando varias otras técnicas nuevas, los autores lograron sondear las propiedades mecánicas y del subsuelo de las muestras, que de otro modo permanecerían ocultas. Por último, mediante el uso de una nueva técnica, denominada microscopía de fuerza electrostática heterodina (E-HFM), los autores pudieron observar vibraciones electromecánicas a nanoescala con una resolución de nanómetros y nanosegundos, además de sondear el entorno electrostático local de dispositivos fabricados con materiales 2D. Nota de contenido: Introduction -- Background -- Materials and Methods -- Morphology of 2D Materials and their Heterostructures -- Nanomechanical Phenomena -- Nanoelectromechanical Phenomena -- Further Work and Future Directions -- Conclusion. Tipo de medio : Computadora Summary : This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and visualization. The isolation of graphene and, shortly after, a host of other 2D materials has attracted a great deal of interest in the scientific community for both their range of extremely desirable and their record-breaking properties. Amongst these properties are some of the highest elastic moduli and tensile strengths ever observed in nature. The work, which was undertaken at Lancaster University's Physics department in conjunction with the University of Manchester and the National Physical Laboratory, offers a new approach to understanding the nanomechanical and nanoelectromechanical properties of 2D materials by utilising the nanoscale and nanosecond resolution of ultrasonic force and heterodyne force microscopy (UFM and HFM) Ѐ“ both contact mode atomic force microscopy (AFM) techniques. Using this approach and developing several other new techniques the authors succeeded in probing samples' subsurface and mechanical properties, which would otherwise remain hidden. Lastly, by using a new technique, coined electrostatic heterodyne force microscopy (E-HFM), the authors were able to observe nanoscale electromechanical vibrations with a nanometre and nanosecond resolution, in addition to probing the local electrostatic environment of devices fabricated from 2D materials. Enlace de acceso : https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...]

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