| Título : |
Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach |
| Tipo de documento: |
documento electrónico |
| Autores: |
Kay, Nicholas D., Autor |
| Mención de edición: |
1 ed. |
| Editorial: |
[s.l.] : Springer |
| Fecha de publicación: |
2018 |
| Número de páginas: |
XXI, 122 p. 67 ilustraciones, 14 ilustraciones en color. |
| ISBN/ISSN/DL: |
978-3-319-70181-3 |
| Nota general: |
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. |
| Palabras clave: |
Superficies (Física) Nanotecnología Análisis de espectro Nanociencia Superficie e interfaz y película delgada Espectroscopia Nanofísica |
| Índice Dewey: |
530.417 |
| Resumen: |
Esta tesis presenta un enfoque único de aplicación de microscopía de fuerza atómica para estudiar las propiedades nanoelectromecánicas de materiales 2D, proporcionando imágenes y diagramas generados por computadora (CGI) de alta resolución para ayudar a la comprensión y visualización de los lectores. El aislamiento del grafeno y, poco después, de una gran cantidad de otros materiales 2D ha despertado un gran interés en la comunidad científica tanto por su gama de propiedades extremadamente deseables como por sus propiedades récord. Entre estas propiedades se encuentran algunos de los módulos elásticos y resistencias a la tracción más altos jamás observados en la naturaleza. El trabajo, que se llevó a cabo en el departamento de Física de la Universidad de Lancaster junto con la Universidad de Manchester y el Laboratorio Nacional de Física, ofrece un nuevo enfoque para comprender las propiedades nanomecánicas y nanoelectromecánicas de materiales 2D mediante la utilización de la resolución a nanoescala y nanosegundos de la fuerza ultrasónica y la heterodina. microscopía de fuerza (UFM y HFM): ambas técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM) en modo de contacto. Utilizando este enfoque y desarrollando varias otras técnicas nuevas, los autores lograron sondear las propiedades mecánicas y del subsuelo de las muestras, que de otro modo permanecerían ocultas. Por último, mediante el uso de una nueva técnica, denominada microscopía de fuerza electrostática heterodina (E-HFM), los autores pudieron observar vibraciones electromecánicas a nanoescala con una resolución de nanómetros y nanosegundos, además de sondear el entorno electrostático local de dispositivos fabricados con materiales 2D. |
| Nota de contenido: |
Introduction -- Background -- Materials and Methods -- Morphology of 2D Materials and their Heterostructures -- Nanomechanical Phenomena -- Nanoelectromechanical Phenomena -- Further Work and Future Directions -- Conclusion. |
| En línea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach [documento electrónico] / Kay, Nicholas D., Autor . - 1 ed. . - [s.l.] : Springer, 2018 . - XXI, 122 p. 67 ilustraciones, 14 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-319-70181-3 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
| Palabras clave: |
Superficies (Física) Nanotecnología Análisis de espectro Nanociencia Superficie e interfaz y película delgada Espectroscopia Nanofísica |
| Índice Dewey: |
530.417 |
| Resumen: |
Esta tesis presenta un enfoque único de aplicación de microscopía de fuerza atómica para estudiar las propiedades nanoelectromecánicas de materiales 2D, proporcionando imágenes y diagramas generados por computadora (CGI) de alta resolución para ayudar a la comprensión y visualización de los lectores. El aislamiento del grafeno y, poco después, de una gran cantidad de otros materiales 2D ha despertado un gran interés en la comunidad científica tanto por su gama de propiedades extremadamente deseables como por sus propiedades récord. Entre estas propiedades se encuentran algunos de los módulos elásticos y resistencias a la tracción más altos jamás observados en la naturaleza. El trabajo, que se llevó a cabo en el departamento de Física de la Universidad de Lancaster junto con la Universidad de Manchester y el Laboratorio Nacional de Física, ofrece un nuevo enfoque para comprender las propiedades nanomecánicas y nanoelectromecánicas de materiales 2D mediante la utilización de la resolución a nanoescala y nanosegundos de la fuerza ultrasónica y la heterodina. microscopía de fuerza (UFM y HFM): ambas técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM) en modo de contacto. Utilizando este enfoque y desarrollando varias otras técnicas nuevas, los autores lograron sondear las propiedades mecánicas y del subsuelo de las muestras, que de otro modo permanecerían ocultas. Por último, mediante el uso de una nueva técnica, denominada microscopía de fuerza electrostática heterodina (E-HFM), los autores pudieron observar vibraciones electromecánicas a nanoescala con una resolución de nanómetros y nanosegundos, además de sondear el entorno electrostático local de dispositivos fabricados con materiales 2D. |
| Nota de contenido: |
Introduction -- Background -- Materials and Methods -- Morphology of 2D Materials and their Heterostructures -- Nanomechanical Phenomena -- Nanoelectromechanical Phenomena -- Further Work and Future Directions -- Conclusion. |
| En línea: |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
| Link: |
https://biblioteca.umanizales.edu.co/ils/opac_css/index.php?lvl=notice_display&i |
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