TÃtulo : |
Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films |
Tipo de documento: |
documento electrónico |
Autores: |
Hinrichs, Karsten, ; Eichhorn, Klaus-Jochen, |
Mención de edición: |
2 ed. |
Editorial: |
[s.l.] : Springer |
Fecha de publicación: |
2018 |
Número de páginas: |
XXVI, 547 p. 314 ilustraciones, 156 ilustraciones en color. |
ISBN/ISSN/DL: |
978-3-319-75895-4 |
Nota general: |
Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos. |
Palabras clave: |
Superficies (FÃsica) Superficies (TecnologÃa) Peliculas delgadas QuÃmica FÃsica Láseres Material Superficie e interfaz y pelÃcula delgada Superficies Interfaces y PelÃcula Delgada Láser Caracterización y Técnica AnalÃtica |
Clasificación: |
|
Resumen: |
Esta nueva edición proporciona un estudio de última generación de los métodos elipsométricos utilizados para estudiar pelÃculas y superficies orgánicas, desde aplicaciones de laboratorio hasta aplicaciones de sincrotrón, con especial atención al uso in situ en entornos de procesamiento y en interfaces sólido-lÃquido. Gracias al desarrollo de materiales orgánicos, meta e hÃbridos funcionales para nuevos dispositivos ópticos, electrónicos, de detección y biotecnológicos, el análisis elipsométrico de propiedades ópticas y materiales ha avanzado enormemente en los últimos años. La segunda edición se ha actualizado para reflejar los últimos avances en métodos elipsométricos. El nuevo contenido se centra en el estudio de materiales anisotrópicos, polÃmeros conjugados, polarones, monocapas autoensambladas, membranas industriales, adsorción de proteÃnas, enzimas y péptidos RGD, asà como la correlación de espectros elipsométricos con la estructura y las interacciones moleculares. |
Nota de contenido: |
Indtroduction -- Ellipsometry: A survey of Concept -- Biomolecules at surfaces -- Smart polymer surfaces and films -- Nanostructured surfaces and organic/inorganic hybrids -- Thin films of organic semiconductors for OPV, OLEDs and OTFT -- Developments in ellipsometric real-time/in-situ monitoring techniques -- Infrared spectroscopic methods for characterization of thin organic films -- Brillant infrared light sources for micro-ellipsometric studies of organic films -- Optical constants. . |
Enlace de acceso : |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films [documento electrónico] / Hinrichs, Karsten, ; Eichhorn, Klaus-Jochen, . - 2 ed. . - [s.l.] : Springer, 2018 . - XXVI, 547 p. 314 ilustraciones, 156 ilustraciones en color. ISBN : 978-3-319-75895-4 Libro disponible en la plataforma SpringerLink. Descarga y lectura en formatos PDF, HTML y ePub. Descarga completa o por capítulos.
Palabras clave: |
Superficies (FÃsica) Superficies (TecnologÃa) Peliculas delgadas QuÃmica FÃsica Láseres Material Superficie e interfaz y pelÃcula delgada Superficies Interfaces y PelÃcula Delgada Láser Caracterización y Técnica AnalÃtica |
Clasificación: |
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Resumen: |
Esta nueva edición proporciona un estudio de última generación de los métodos elipsométricos utilizados para estudiar pelÃculas y superficies orgánicas, desde aplicaciones de laboratorio hasta aplicaciones de sincrotrón, con especial atención al uso in situ en entornos de procesamiento y en interfaces sólido-lÃquido. Gracias al desarrollo de materiales orgánicos, meta e hÃbridos funcionales para nuevos dispositivos ópticos, electrónicos, de detección y biotecnológicos, el análisis elipsométrico de propiedades ópticas y materiales ha avanzado enormemente en los últimos años. La segunda edición se ha actualizado para reflejar los últimos avances en métodos elipsométricos. El nuevo contenido se centra en el estudio de materiales anisotrópicos, polÃmeros conjugados, polarones, monocapas autoensambladas, membranas industriales, adsorción de proteÃnas, enzimas y péptidos RGD, asà como la correlación de espectros elipsométricos con la estructura y las interacciones moleculares. |
Nota de contenido: |
Indtroduction -- Ellipsometry: A survey of Concept -- Biomolecules at surfaces -- Smart polymer surfaces and films -- Nanostructured surfaces and organic/inorganic hybrids -- Thin films of organic semiconductors for OPV, OLEDs and OTFT -- Developments in ellipsometric real-time/in-situ monitoring techniques -- Infrared spectroscopic methods for characterization of thin organic films -- Brillant infrared light sources for micro-ellipsometric studies of organic films -- Optical constants. . |
Enlace de acceso : |
https://link-springer-com.biblioproxy.umanizales.edu.co/referencework/10.1007/97 [...] |
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